авторефераты диссертаций БЕСПЛАТНАЯ БИБЛИОТЕКА РОССИИ

КОНФЕРЕНЦИИ, КНИГИ, ПОСОБИЯ, НАУЧНЫЕ ИЗДАНИЯ

<< ГЛАВНАЯ
АГРОИНЖЕНЕРИЯ
АСТРОНОМИЯ
БЕЗОПАСНОСТЬ
БИОЛОГИЯ
ЗЕМЛЯ
ИНФОРМАТИКА
ИСКУССТВОВЕДЕНИЕ
ИСТОРИЯ
КУЛЬТУРОЛОГИЯ
МАШИНОСТРОЕНИЕ
МЕДИЦИНА
МЕТАЛЛУРГИЯ
МЕХАНИКА
ПЕДАГОГИКА
ПОЛИТИКА
ПРИБОРОСТРОЕНИЕ
ПРОДОВОЛЬСТВИЕ
ПСИХОЛОГИЯ
РАДИОТЕХНИКА
СЕЛЬСКОЕ ХОЗЯЙСТВО
СОЦИОЛОГИЯ
СТРОИТЕЛЬСТВО
ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
ТРАНСПОРТ
ФАРМАЦЕВТИКА
ФИЗИКА
ФИЗИОЛОГИЯ
ФИЛОЛОГИЯ
ФИЛОСОФИЯ
ХИМИЯ
ЭКОНОМИКА
ЭЛЕКТРОТЕХНИКА
ЭНЕРГЕТИКА
ЮРИСПРУДЕНЦИЯ
ЯЗЫКОЗНАНИЕ
РАЗНОЕ
КОНТАКТЫ


Pages:     | 1 || 3 | 4 |

«Государственный комитет по науке и технологиям Республики Беларусь СПРАВОЧНИК центров коллективного пользования уникальным научным оборудованием и ...»

-- [ Страница 2 ] --

– видимое поле для 10 объектива............................... 1,251,25 мммм – скорость сканирования при разрешении 512512 пикселей.................до 5 кадр/с – максимальное разрешение................................ 20482048 пикселей – дополнительное увеличение.........................................до Максимальное оптическое разрешение:

– горизонтальное.................................................170 нм – вертикальное...................................................440 нм – точность позиционирования в вертикальном направлении.................... 50 нм – диапазон перестройки в вертикальном направлении при сканировании.......... 200 мкм Год выпуска: 2006.

Центры коллективного пользования Национальной академии наук Беларуси Центр криогенных исследований ГНПО «НПЦ НАН Беларуси по материаловедению»

Организация: ГНПО «НПЦ НАН Беларуси по материаловедению»

Руководитель: Федосюк Валерий Михайлович Адрес: 220072, Минск, ул. П. Бровки, Контакты: тел. 284-15-58, факс 284-08- Руководитель ЦКП: Демьянов Сергей Евгеньевич Контакты: тел. 284-11-66, факс 284-15-58, demyanov@ifttp.bas-net.by Дата создания: 1978 г.

Главные направления исследований:

– исследования гальваномагнитных свойств материалов с металлическим типом проводимости в магнитных полях до 13 Тл в интервале температур 4,2–300 К;

– исследование электрических свойств материалов в интервале температур 4,2–300 К;

– исследования наноразмерных структур с использованием технологии ионных треков;

– изучение оксидных соединений на основе переходных металлов для создания элементов спин троники;

– производство криогенных жидкостей (жидкий гелий, азот).

Исследования проводятся в рамках ГКПНИ «Кристаллические и молекулярные структуры», «Нанома териалы и нанотехнологии».

Основные используемые методики:

– измерение гальваномагнитных и электрических характеристик материалов при низких темпе ратурах в сильных магнитных полях;

– измерение механических свойств материалов при низких температурах;

– измерение ВАХ наноразмерных многослойных структур;

– синтез сложных металлооксидных соединений.

ОСНОВНОЕ НАУЧНОЕ ОБОРУДОВАНИЕ Гелиевая ожижительная станция Назначение: производство жидкого гелия.

Технические характеристики:

Производительность:

– с охлаждением..................... 37 л/ч – без охлаждения..................... 18 л/ч Год выпуска: 2004.

Стационарная азотодобывающая станция СКДС- Назначение: получение жидкого азота.

Технические характеристики:

Производительность................................................ 70 л/ч Год выпуска: 1989.

Центры коллективного пользования Национальной академии наук Беларуси Радиационный центр ГНПО «НПЦ НАН Беларуси по материаловедению»

Организация: ГНПО «НПЦ НАН Беларуси по материаловедению»

Руководитель: Федосюк Валерий Михайлович Адрес: 220072, Минск, ул. П. Бровки, Контакты: тел. 284-15-58, факс 284-08- Руководитель ЦКП: Коршунов Федор Павлович Контакты: тел. 284-11-27, 284-12-89, факс 284-08-88 (для Коршунова Ф.П.), korshun@ifttp.bas-net.by Дата создания: 2000 г.

Лицензия Проматомнадзора МЧС Республики Беларусь № 02300/0329578 (срок действия 31.03.2008– 31.03.2013) на право осуществления деятельности в области промышленной безопасности.

Главные направления исследований:

– исследования по радиационной физике твердого тела;

– разработка радиационных технологий изделий электронной техники;

– выполнение облучений образцов материалов и изделий электронами с энергией 4–6 МэВ и гамма-квантами Со60 по заказам научно-исследовательских и других учреждений, организаций и предприятий;

– радиационная стерилизация медицинских изделий для учреждений Минздрава РБ;

– исследования выполняются в рамках следующих государственных программ (2006–2010 гг.):

ГПОФИ «Высокоэнергетические, ядерные и радиационные технологии», ГКПНИ «Кристалличе ские и молекулярные структуры», ГКПНИ «Наноматериалы и нанотехнологии», ГКПНИ «Электро ника», ГНТП «Информационные технологии», ГНТП «Микроэлектроника».

Перечень основных методик измерений:

– дистанционные измерения характеристик материалов и изделий при электронном и гамма облучении;

– методика облучения образцов в широком температурном интервале (77–600 К);

– дозиметрия гамма-излучения ферросульфатным методом, а также с помощью образцовых глю козных и стеклянных детекторов;

– измерение плотности потока электронного излучения с помощью цилиндра Фарадея;

– измерение энергии электронов калориметрическим методом, а также по их пробегу в алюми нии и меди.

Центры коллективного пользования Национальной академии наук Беларуси ОСНОВНОЕ НАУЧНОЕ ОБОРУДОВАНИЕ Линейный ускоритель электронов ЭЛУ- Назначение: облучение материалов и изделий, исследования по радиационной физике твердого тела.

Технические характеристики:

Энергия электронов...................... до 5 МэВ Ток в импульсе........................... до 1 А Максимальная мощность пучка электронов.................................. 5 кВт Год выпуска: 1976.

Линейный ускоритель электронов У- Назначение: Облучение материалов и изделий, иссле дования по радиационной физике твердого тела.

Технические характеристики:

Энергия электронов.................до 7 МэВ Ток в импульсе.......................до 1 А Максимальная мощность пучка электронов... 5 кВт Год выпуска: 1991.

Гамма-установка «Исследователь»

Назначение: облучение материалов и изделий, исследования по ра диационной физике твердого тела.

Технические характеристики:

....Со Источник излучения..........................

.31014 Бк Активность облучателей.......................

1200 см Объем облучательной камеры...................

Мощность дозы в камере........................ 40 Р/с Год выпуска: 1976.

Центры коллективного пользования Национальной академии наук Беларуси Центр электронной и световой микроскопии ГНУ «Институт физиологии НАН Беларуси»

Организация: ГНУ «Институт физиологии НАН Беларуси»

Руководитель: Гурин Валерий Николаевич Адрес: Минск, ул. Академическая, Руководитель ЦКП: Новаковская Светлана Алексеевна Контакты: тел. 284-17-82, факс 284-16-30, biblio@fizio.bas-net.by Дата создания: 1982 г.

Главные направления исследований:

– медико-биологические исследования.

Работы выполняются в рамках государственных программ: «Современные технологии в медицине», «Инфекционные болезни и микробиологические технологии», «Биологическая инженерия и био безопасность», «Физика кристаллических неупорядоченных и системно-молекулярных структур», «Наноматериалы и нанотехнологии», «Химические реагенты и материалы».

Перечень основных методик измерений:

– методики для электронно-микроскопического и светооптического гистохимического исследо ваний объектов различной природы;

– получение микрофотографий в режиме трансмиссионной и сканирующей электронной микро скопии, электронная микродифракция;

– проведение фотометрических и спектрометрических измерений в широком световом диапазоне;

– запись полученного фотоматериала в компьютер в виде файлов, редактирование и печать.

ОСНОВНОЕ НАУЧНОЕ ОБОРУДОВАНИЕ Электронный микроскоп JEM-100CX со сканирующей приставкой ASID-4D Назначение: просмотр и фотографирование в режиме трансмис сионной и сканирующей микроскопии, электронная микродиф ракция.

Технические характеристики:

Гарантированное разрешение:

– решетка.............................. 0,14 нм – по точкам в режиме трансмиссионной микроскопии................ 0,3 нм – в режиме сканирования..................... 3 нм Диапазоны увеличений, в режиме:

– трансмиссионной микроскопии..... от 100 до 320 – сканирования................... от 10 до 800 Ускоряющее напряжение............20, 40, 60, 80, 100 кВ Год выпуска: 1981.

Световой микроскоп-фотометр MPV-2 с устройством управления и обработки данных Назначение: просмотр, фотографирование или ввод в компьютер изображений микрообъектов, проведение фотометрических и спектрометрических измерений в широком световом диапазоне.

Центры коллективного пользования Национальной академии наук Беларуси Технические характеристики:

Увеличение................... до Оптический диапазон....... от 220 до 800 нм Микроскоп оборудован осветителем со стеклян ным монохроматором (ксеноновая лампа), освети телем на ртутной лампе сверхвысокого давления и осветителем на галогеновой лампе, содержит фо тометр для измерения светопропускания или флу оресценции в точках объекта, выделяемых с помо щью зондовой диафрагмы.

Год выпуска: 1985.

Измерительная цифровая камера Leica DC300F для микроскопа с интерфейсом HOTLink Назначение: просмотр, фотографирование или ввод в компьютер изображений микрообъектов (при установке дополнительной цифровой камеры), проведение фотометрических и спектрометрических измерений в широком световом диапазоне.

Технические характеристики:

Цветной сенсор........................... на 2/3” Разрешение....... 12801024 пикселей, по 12 бит на цвет Увеличение..............................до Оптический диапазон.................... 220–800 нм Чувствительность позволяет регистрировать слабое луоресцентное свечение Год выпуска: 2003.

Центры коллективного пользования Национальной академии наук Беларуси Центр коллективного пользования «Объединенный межведомственный центр химико-аналитических, медико-биологических и геоэкологических измерений (ОМЦИ)»

Организация: ГНПО «Научно-практический центр НАН Беларуси по биоресурсам»

Руководитель: Никифоров Михаил Ефимович Адрес: 220072, Минск, ул. Академическая, Руководитель ЦКП: Кузьмин Владимир Николаевич Контакты: тел. 284-09-25, факс 284-09-25, ecomir@minpriroda.by Дата создания: 2004 г.

Главные направления исследований:

– проведение химико-аналитических измерений в приоритетных направлениях фундаменталь ных научных исследований;

контроль за загрязнением природных и питьевых вод, почв и атмо сферы, за токсичностью отходов;

анализ состава сложных химических соединений, комплексный экологический мониторинг окружающей среды с использованием дистанционных методов;

– контроль биопроб, пищевых добавок и лекарственных препаратов на содержание запрещен ных веществ, подготовка специальных проб, получение тонких срезов материала;

получение микрофотографий объектов при различных увеличениях микроскопов;

проведение микрофо тометрических измерений на основе цифровых изображений;

– изучение природных ресурсов и экологического состояния окружающей среды аэрокосмиче скими методами, выполнение обследования местности для создания крупномасштабных тема тических карт и цифровых моделей местности;

получение и обработка цифровых изображений, обработка космических мультиспектральных данных, топогеодезическая съемка местности с использованием высокоточных спутниковых систем глобального позиционирования (GPS), создание геоинформационных систем и моделей на основе электронных топографических и те матических карт местности и сопутствующих баз данных.

Перечень основных методик измерений:

– методы химико-аналитических исследований (хроматографические, хромато-масс-спектромет рические, атомно-абсорбционные и др.) определены в аттестате аккредитации Комстандарта № BY/112 02.1.0.0409 от 28.06.2003;

– методы контроля биопроб, пищевых добавок и лекарственных препаратов на содержание за прещенных веществ в соответствии с рекомендациями Всемирного антидопингового агенства (WADA);

– методы цифровой микроскопии;

– нормативные методики Минприроды по обследованию состояния окружающей среды, норма тивные методики Госкомзема по топогеодезическим съемкам.

ОСНОВНОЕ НАУЧНОЕ ОБОРУДОВАНИЕ Хромато-масс-спектрометр Hewlett-Packard GC/MSD 5890/5972/ALS Назначение: определение концентраций летучих органических со единений.

Технические характеристики:

Чувствительность............................. 10–9 г M/Z............................. от 2 до 700 дальтон Год выпуска: 1996.

Центры коллективного пользования Национальной академии наук Беларуси Хромато-масс-спектрометр Hewlett-Packard GC/MSD 5890/5972/Purge&Trap Назначение: определение концентраций летучих органических соединений.

Технические характеристики:

Чувствительность............................ 10–9 г M/Z............................ от 2 до 700 дальтон Год выпуска: 1996.

Газовый хроматограф Hewlett-Packard GC 6890/ECD/FID Назначение: определение концентраций органических соединений.

Технические характеристики:

Наличие пламенно-ионизационного и электронно-за хватного детекторов Чувствительность......................10–9 г Год выпуска: 1997.

Газовый хроматограф Hewlett-Packard 6890 GC 6890/NPD/FID Назначение: определение концентраций органических соединений.

Технические характеристики:

Наличие пламенно-ионизационного и азотно-фосфорного детекторов Чувствительность................................ 10–9 г Год выпуска: 1997.

Высокоэффективный жидкостной хроматограф Waters HPLC Назначение: определение концентраций органических соединений.

Технические характеристики:

Наличие флуоресцентного и УФ-детекторов Чувствительность............................ 10–9 г Год выпуска: 1996.

Атомно-абсорбционный спектрометр Perkin-Elmer Назначение: определение концентраций металлов.

Технические характеристики:

Атомизация................................................... пламенная Чувствительность................................................... 10–9 г Год выпуска: 1997.

Центры коллективного пользования Национальной академии наук Беларуси Спутниковые системы глобального позиционирования Leica GPS-System Назначение: высокоточные измерения координат точек на местности, в том числе и в режиме реального времени.

Технические характеристики:

Точность измерения расстояния между точками на расстояниях до 100 кило метров:

– режим измерений Статика....................... 5 мм +1 мм/км – режим реального времени.......................10 мм +2мм/км Год выпуска: 2001.

Цифровой микроскоп Leica DM 4000B Назначение: просмотр и цифровое отображение микрообъектов.

Технические характеристики:

Цифровое управление Увеличение................................. до Год выпуска: 2004.

Ионный хроматограф Waters BREEZE Технические характеристики:

Наличие кондуктометрического и флуоресцентного детек торов Чувствительность.........................10–9 г Год выпуска: 2007.

Cистема ИСП-масс-спектрометрического элементного анализа ELAN DRC-e (Perkin Elmer) Технические характеристики:

Чувствительность........................10–12 г Год выпуска: 2007.

Спутниковая система GPS GX Назначение: высокоточные измерения координат точек на местности, в том числе и в режиме ре ального времени.

Технические характеристики:

Точность измерения расстояния между точками на расстояниях до 100 километров:

– режим постобработки...................................... 3 мм +0,5 мм/км – режим реального времени....................................10 мм +2 мм/км Год выпуска: 2007.

Центры коллективного пользования Национальной академии наук Беларуси Республиканский компьютерный центр машиностроительного профиля ГНУ «Объединенный институт машиностроения Национальной академии наук Беларуси»

Организация: ГНУ «Объединенный институт машиностроения Национальной академии наук Беларуси»

Руководитель: Высоцкий Михаил Степанович Адрес: 220072, Минск, ул. Академическая, Контакты: тел. 210-07-47, факс 284-02-41, bats@ncpmm.bas-net.by Руководитель ЦКП: Харитончик Сергей Васильевич Контакты: тел. 284-07-17, факс 284-02-41, bats@ncpmm.bas-net.by Дата создания: 2005 г.

Главные направления исследований:

– компьютерный дизайн и проектирование автотракторной и комбайновой техники;

– автоматизация проектирования;

– компьютерное моделирование кинематики, динамики и ресурса, виртуальные испытания авто мобилей, тракторов, комбайнов и других сложных механических систем;

– оценка конструкций автомобилей, тракторов, комбайнов, сложных механических систем с использованием программных средств инженерного анализа.

Исследования выполняются в рамках государственных программ ГКПНИ «Механика» и ГНТП «Маши ностроение».

Основные используемые методики:

– методики промышленного дизайна и проектирования автомобилей, тракторов и сельскохо зяйственных машин;

– методики моделирования устойчивости машин;

– методики решения задач кинематики, динамики и ресурса сложных механических систем;

– методики исследования напряженно-деформируемого состояния конструкций машин;

– методика моделирования краш-тестов автомобилей на распределенной вычислительной систе ме в режиме параллельных вычислений;

– методы исследования эксплуатационных свойств автомобилей, тракторов и сельскохозяйствен ных машин.

ОСНОВНОЕ НАУЧНОЕ ОБОРУДОВАНИЕ Программное обеспечение ICEM Surf Назначение: создание рабочих эскизов, промышленный ди зайн, создание трехмерных графических моделей деталей.

Технические характеристики:

Моделирование поверхностей с эстетикой класса А, дина мическая визуализация и диагностика в реальном времени, быстрое создание математических моделей по сканирован ным данным, анимирование, составление презентаций.

Год выпуска: 2003.

Центры коллективного пользования Национальной академии наук Беларуси Программное обеспечение MSC.ADAMS со специализированными и проблемно ориентированными модулями Назначение: исследование кинематики и динамики механи ческих систем.

Технические характеристики:

Статический, кинематический, динамический, модальный и вибрационный анализ, разработка систем автоматиче ского управления, визуализация результатов, интеграция с CAD/CAM/CAE системами, средствами математического обеспечения и программирования.

Год выпуска: 2005.

Программное обеспечение ANSYS Назначение: решение задач прочности и теплопередачи в механических конструкциях.

Технические характеристики:

Статический анализ конструкций с учетом геометриче ской и физической нелинейности, анализ усталостных характеристик, анализ линейной и нелинейной устой чивости конструкций, стационарные и нестационарные задачи теплофизики с учетом фазового перехода, опти мизация.

Год выпуска: 2005.

Программное обеспечение MPP LS-DYNA, v. Назначение: решение задач соударения взрыва, раз рушения, обработки металлов давлением.

Технические характеристики:

Динамический анализ быстропротекающих физи ческих процессов с учетом структурных и тепло вых изменений объектов на основе метода конеч ных элементов.

Свыше 40 алгоритмов контактного взаимодей ствия, свыше 200 моделей материалов.

Год выпуска: 2004.

Распределенная вычислительная система кластерного типа Назначение: решение задач в режиме параллельных вычислений.

Технические характеристики:

Однородная структура (Pentium IV-3000 RAM 1 ГБ) Гигабитная сеть Базовая ОС..................... Win Год выпуска: 2004.

Центры коллективного пользования Национальной академии наук Беларуси Программное обеспечение Pro/ENGINEER Назначение: трехмерное моделирование и инженерный экспресс-анализ.

Технические характеристики:

Моделирование твердотельных моделей деталей и узлов, в том чис ле со сложными поверхностями, построение сборок, анимация меха низмов в сборках, реализация функций инженерного анализа конст рукций.

Год выпуска: 2004.

Программное обеспечение MatLab Назначение: моделирование и отладка систем управления.

Технические характеристики:

Формирование целостной системы виртуального дина мического моделирования, обеспечение создания мо дели управления и описания всех функций системы при отсутствии необходимости выполнения вычислительных операций и написания программного кода.

Год выпуска: 2006.

Программный комплекс Unigraphics Назначение: трехмерное моделирование, инженерный анализ и расчет созданных моделей.

Технические характеристики:

Создание моделей деталей, узлов и изделий, построение сбо рок, анимация механизмов в сборках, выполнение инженер ных расчетов и оптимизация механизмов по кинематическим критериям с назначением действующих сил и моделирова нием динамики процессов, оценка изделия по прочностным и вибрационным критериям, критериям теплоемкости и тепло передачи, проведение расчетов статического состояния, про дольного изгиба, установившегося температурного режима.

Год выпуска: 2006.

Программное обеспечение LMS Virtual.Lab Назначение: моделирование, анализ, ми нимизация излучения шума и оптимиза ция показателей качества звуковой среды;

моделирование акустических характери стик сложных систем с максимальной точ ностью и скоростью.

Технические характеристики:

Виброакустические расчеты в области снижения шума сельскохозяйственных машин, машино тракторных агрегатов и автотранспортных средств уже на ранних стадиях проектирования, т. е.

до начала натурных испытаний прототипа.

Год выпуска: 2007.

Центры коллективного пользования Национальной академии наук Беларуси Центр структурных исследований и трибомеханических испытаний материалов и изделий машиностроения ГНУ «Объединенный институт машиностроения НАН Беларуси»

Организация: ГНУ «Объединенный институт машиностроения НАН Беларуси»

Руководитель: Высоцкий Михаил Степанович Адрес: 220072, Минск, ул. Академическая, Контакты: тел. 210-07-48, 284-24- Руководитель ЦКП: Кукареко Владимир Аркадьевич Контакты: тел. 284-24-05, 284-24-09, v_kukareko@mail.ru Дата создания: 2005 г.

Главные направления исследований:

– исследование структуры, фазового состава и упруго-напряженного состояния конструкцион ных материалов, используемых в машиностроении;

– исследование свойств и состава поверхностных слоев материалов и изделий, а также их топо графии;

– измерение механических свойств, в том числе в области высоких температур, и дюрометриче ских характеристик машиностроительных материалов, проведение экспертиз;

– определение триботехнических свойств материалов;

– исследование характеристик выносливости металлических материалов, используемых в маши ностроении;

– прецизионные измерения геометрических размеров изделий машиностроения;

– проведение измерений и исследований по заказам научно-исследовательских и производ ственных и других учреждений, организаций и предприятий;

– координация научно-методических работ в области исследований структуры и механических свойств машиностроительных материалов.

Перечень основных методик измерений:

– методика измерения твердости и микротвердости материалов;

– методика определения величины зерна;

– методика определения коррозионной стойкости металлов и сплавов;

– методика изучения состава продуктов износа;

– методика определения неметаллических включений в стали;

– методика определения количества остаточного аустенита;

– методика определения остаточных макронапряжений;

– методика электрохимического экстрагирования фаз;

– фазовый анализ, количественный фазовый анализ, определение параметров кристаллической решетки материалов;

– анализ поверхности микро- и субмикрорельефа в контактном режиме, динамическом полукон тактном, визуализация картин распределения латеральных сил, фазового контраста, проведе ние литографии силовой и токовой;

– топографический анализ границ раздела структурных составляющих синтезированных матери алов, оценка шероховатости до 0,1 нм;

– методика вакуумного отжига;

– при исследованиях структурного состояния и фазового состава машиностроительных матери алов используется поисковое программное обеспечение: DIFFRAC для фазового анализа;

PDF2;

DIFFRAC PLUS TOPAS для количественного анализа;

TOPAS;

DIFFRAC PLUS INDEX и DIFFRAC PLUS METRIC;

Центры коллективного пользования Национальной академии наук Беларуси – при исследовании и анализе микро- и субмикрорельефа поверхности машиностроительных ма териалов с помощью атомно-силового микроскопа используются следующие методики: управ ление съемкой — программой Surface Scan, а обработка и визуализация данных — программой Surface View;

– при измерении геометрических параметров изделий с помощью координатно-измерительной машины Etalon Derbi 454 используется стандартная программа Reflex v2.51.

ОСНОВНОЕ НАУЧНОЕ ОБОРУДОВАНИЕ Дифрактометр рентгеновский D8 Advance, оснащенный приставкой для вращения образцов, приставкой для проведения поверхностно скользящей дифракции, высокотемпературной вакуумной камерой Назначение: проведение рентгеноструктурного анализа, определение фазового состава материалов, определение макронапряжений в поверх ностных слоях.

Технические характеристики:

Конфигурация............................ горизонтальная Геометрия........................................ Диаметр гониометра....................... 435, 500, 600 мм Угловой диапазон..................................360° Максимально возможный угловой диапазон......... 110°20168° Угловое позиционирование (пошаговое с оптическим датчиком):

– минимальный шаг............................................... 0,0001° – воспроизводимость............................................. ±0,0001° – максимальная скорость............................................. 25°/с Год выпуска: 2002.

NT-206 экспериментальный измерительный комплекс на базе атомно-силового микроскопа Назначение: измерение и анализ микро- и субмикрорельефа объектов микро- и нанометрового диапазона с высоким раз решением.

Технические характеристики:

Режимы сканирования:

– контактный статический – бесконтактный динамический – tapping mode – friction force mapping Многорежимная работа:

– статический режим — одновременная регистрация топографии, картографирования сил тре ния (friction force mapping), отображение отклонения консоли;

– динамический режим — одновременная регистрация топографии, фазового сдвига Разрешение:

– вертикальное................................................ 0,2–0,4 нм – латеральное (в плоскости сканирования)................................. 2 нм – размер матрицы сканирования................................. 512512 точек Скорость сканирования в плоскости ХУ.................................. 10 м/с Обеспечивается фильтрация и программная коррекция нелинейности Центры коллективного пользования Национальной академии наук Беларуси Детектирующая система:.....................лазер, четырехсекционный фотодетектор Сканирующая система: пьезокерамическая трубка для перемещения образца под неподвижным зондом Зонды: коммерческие АСМ зонды................................. 3,61,60,6 мм Максимальный размер исследуемого образца........................... 30308 мм Рабочая среда.............................. воздух, 760 мм. рт. ст., 22 ±4 °С, вл.70% Потребляемая мощность............................................. 300 Вт Год выпуска: 2002.

Etalon Derbi 454 координатно-измерительная машина Назначение: измерение геометрических параметров и размеров из делий машиностроения.

Технические характеристики:

Диапазон измерения....................457508406 мм Линейная точность.......................... 0,005 мм Габариты.......................... 10168851575 мм Вес....................................... 218 кг Максимальный вес измеряемой детали............... 227 кг Размеры измеряемой детали (до)............559750483 мм Год выпуска: 2003.

Печь вакуумная ВС-16-22- Назначение: проведение термообработки в вакууме.

Технические характеристики:

Температура..................... до 2200 °С... 10–5 мм рт. ст Вакуум....................

Размеры рабочей камеры........200200400 мм Вес.............................. 350 кг Год выпуска: 2006.

Центры коллективного пользования Министерства образования ЦЕНТРЫ КОЛЛЕКТИВНОГО ПОЛЬЗОВАНИЯ МИНИСТЕРСТВА ОБРАЗОВАНИЯ Белорусский межвузовский центр обслуживания научных исследований НИЧ УО «Белорусский государственный университет»

Организация: УO «Белорусский государственный университет»

Руководитель: Абламейко Сергей Владимирович Адрес: 220050, Минск, пр. Независимости, Контакты: тел. 200-71-08, факс 209-54- Руководитель ЦКП: Гусакова София Викторовна Научный руководитель ЦКП: Анищик Виктор Михайлович Адрес: 220050, пр. Независимости, 2, физический факультет, к. Контакты: тел. 209-55-13, факс 209-54-45 (для Гусаковой С.В.), husakova@bsu.by Дата создания: 1984 г.

Главные направления исследований:

– создание новых материалов, направленное модифицирование структуры, элементного и фазо вого состава и свойств материалов;

– изучение влияния внешних воздействий (температуры, излучений, механических нагрузок) на структуру и свойства материалов, в том числе наноразмерных;

– определение типа и параметра кристаллической решетки, исследование текстуры массивных и тонкопленочных материалов, изучение топографии поверхности и распределение компонентов по поверхности, определение состава образцов, а также микро- и наноразмерных включений;

– исследование механических свойств;

– разработка материалов с нелинейно-оптическими свойствами для волоконной оптической свя зи, создание приборов для контроля качества голографических изображений.

Основные используемые методики:

– определение элементного состава методом рентгеноспектрального микроанализа;

– определение типа и параметра решетки (фазовый состав) методом рентгеновской дифракто метрии;

– определение кристаллической структуры тонких слоев методом микродифракции электронов;

– исследование топографии поверхности и определение размеров структурных элементов с вы соким (5–10 нм) разрешением, в том числе для непроводящих образцов;

– измерения микротвердости;

– проведение спектроскопических измерений (флуоресцентная кинетическая спектроскопия, КР-спектроскопия с лазерным возбуждением).

ОСНОВНОЕ НАУЧНОЕ ОБОРУДОВАНИЕ Растровый электронный микроскоп LEO 1455 VP Назначение: исследование топографии поверхности и элементного состава.

Технические характеристики:

Увеличение.................................................. до 300 Центры коллективного пользования Министерства образования Разрешающая способность:

– в высоковакуумном режиме............... 3,5 нм – в низковакуумном....................... 5 нм Микроанализ элементов.................. от B до U Год выпуска: 2000.

Просвечивающий электронный микроскоп ПЭМ- Назначение: исследование микроструктуры тонких пленок.

Технические характеристики:

Увеличение..............................от 30 до 300 Разрешаемое расстояние:

– по точкам.................................... 0,5 нм – по кристаллической решетке.......................0,35 нм Год выпуска: 1990/2005.

Рентгеновские дифрактометры ДРОН 2, ДРОН 3, ДРОН 4-13, ДРОН 4- Назначение: исследование фазового состава и кристалличе ской структуры.

Технические характеристики:

Скорость съемки дифрактограмм........ от 1/32 град/мин до 16 град/мин в Cu и Co-излучении Год выпуска: 1976, 1979, 1992, 1993.

Динамический микротвердомер Shimadzu DUH-2 (основной блок) Назначение: измерение микротвердости.

Технические характеристики:

Измерения в области малых нагрузок................................... от 0,1 мН и тонких слоев..................................................... 10 нм Глубина инденцирования.......................................... до 10 мкм Год выпуска: 1999.

Виброзащитный голографический стенд в составе: 1VIS95-065-13-70, виброзащитный стенд 1НТ12-24- Назначение: голографические исследования.

Технические характеристики:

Вертикальная резонансная частота.......................................4,2 Гц Горизонтальная резонансная частота......................................2,2 Гц Автоматическая точность выравнивания.................................. 3 ±1 мм Вертикальный диапазон регулировки..................................... 12 мм Типичный диапазон давления воздуха............................ от 0,5 до 1,9 кг/см Переходное время задержки возбуждения..................................50 мс Год выпуска: 2004.

Центры коллективного пользования Министерства образования Гелий-неоновые лазеры ГН-25-1 — 2 шт.

Назначение: голографические исследования.

Технические характеристики:

Мощность излучения............. 25 мВт Длина волны.................... 633 нм Спектральный состав............... ТЕМ Поляризация..................... 100: Диаметр пучка....................1,5 мм Расходимость выходного излучения... 1,2 мрад Год выпуска: 2005.

Аргоновый лазер ЛГ-106М Назначение: голографические исследования.

Технические характеристики:

Мощность излучения................................................. 1 Вт Длины волн.................................................. 488, 514,5 нм Спектральный состав................................................ ТЕМ Поляризация....................................................... 100: Диаметр пучка...................................................... 3 мм Расходимость выходного излучения.................................... 1,5 мрад Год выпуска: 2005.

КР-спектрометр Назначение: измерение спектров комбинационного рассеяния.

Технические характеристики:

Диапазон колебательных частот................................ от 100 до 4500 см– Разрешение...................................................... 1 см– Источник возбуждения....................................... аргоновый лазер Год выпуска: 1995.

Лазер LS- Назначение: предназначен для динамической голографии.

Технические характеристики:

Энергия импульса, (ТЕМ00) 1064 нм..................................... 100 мДж 532 нм....................................... 50 мДж (ТЕМmn) 1064 нм..................................... 250 мДж 532 нм..................................... 150 мДж Центры коллективного пользования Министерства образования Длительность импульса:

– режим модуляции добротности..................................... 10–15 нс – режим пассивной синхронизации мод................................ 30–40 пс – частота повторения импульса....................................... 1–10 Гц Расходимость выходного излучения:

– (ТЕМ00).......................................................1 мрад – (ТЕМmn)..................................................... 2,5 мрад Год выпуска: 2003.

Наносекундный импульсный флуориметр Назначение: измерение кинетики и времени затухания флуоресценции.

Технические характеристики:

Диапазон длин волн:

– возбуждения............................................. от 250 до 600 нм – флуоресценции........................................... от 280 до 700 нм Временное разрешение................................................1 нс Год выпуска: 2003.

Комплекс оборудования для пробоподготовки Назначение: подготовка образцов, в том числе, резка, очистка, полирование, электролитическое утонение.

Состав: отрезной станок Minitom, полуатоматический шлифовально-полировальный станок TegraPol-25 с прижимной головкой TegraForce-5, установка для электролитического утонения TenuPol-5.

Технические характеристики:

При резке:

Скорость отрезания......................................... 110–420 об./мин Точность....................................................... 0,01 мм При полировке:

Скорость вращения полировального диска.......................... 40–600 об./мин Давление..................................................... 10– 400 Н При электролитическом утонении:

Одно- и двухстороннее утонение Диаметр образца.................................................... 3 мм Температура.............................................. от –20 до +150 °С Сканирующий зондовый микроскоп Solver PRO Назначение: исследование микрорельефа поверхности и ее локальных свойств (электрических, магнитных, механических).

Центры коллективного пользования Министерства образования Технические характеристики:

Реализованы различные методы измерений и воздействий: туннельная микроскопия, атом но-силовая микроскопия (контактная и полу контактная), нанолитография, спектроскопия.

Размер образца........... до 404010 мм Разрешение:

– по XY....................... 0,2 нм – по Z...................... 0,001 нм Диапазон перемещения образца..... 55 мм Точность перемещения............. 5 мкм Фурье-спектрометр VERTEX Назначение: регистрация инфракрасных спектров различных веществ.

Технические характеристики:

Стандартное спектральное разрешение.........0,5 см– Опция................................0,2 см– Расширение спектрального диапазона измерений...... от дальнего ИК до ближнего ИК и видимого диапазона (20–30 см–1) Стандартная скорость сканирования — более 10 спектров в секунду при спектральном разреше нием 8 см– Имеется приставка однократного НПВО на кристалле ZnSe Оснащен высокопроизводительной системой сбора и обработки информации.

Динамический микротвердомер SHIMADZU DUM Назначение: измерения твердости в области малых на грузок (~0,1 мН) и тонких слоев до 10 нм.

Технические характеристики:

Глубина индецирования........ от 0,001 до 10 мкм Центры коллективного пользования Министерства образования Лаборатория физико-химических методов исследования НИИ ФХП УО «Белорусский государственный университет»

Организация: Учреждение Белорусского государственного университета «Научно-исследовательский институт физико-химических проблем» (НИИ ФХП Белгосуниверситета) Руководитель: Ивашкевич Олег Анатольевич Адрес: 220050, Минск, ул. Ленинградская, Контакты: тел. 226-51-41, факс 226-46-96, fhp@bsu.by Руководитель ЦКП: Ивашкевич Людмила Сергеевна Контакты: тел. 209-51-95, факс 226-46-96, iva@bsu.by Дата создания: 2002 г.

Главные направления исследований:

– исследование микро- и наноморфологии поверхности различных материалов и изделий;

– определение элементного состава микроучастков поверхности;

– определение размеров и формы микро- и наночастиц различных веществ;

– установление атомной структуры кристаллических веществ на монокристаллах;

– установление атомной структуры кристаллических веществ с использованием порошковых образцов;

– идентификация поликристаллических неорганических и органических веществ;

– установление качественного и количественного состава смесей поликристаллических веществ;

– определение кристаллографических характеристик индивидуальных соединений и твердых растворов;

– определение микроструктуры веществ (размеров областей когерентного рассеяния, величин микронапряжений, параметров многослойных периодических структур, характеристик тексту ры и др.);

– изучение структуры комплексов переходных металлов с органическими лигандами и свобод ных органических радикалов по спектрам ЭПР;

– анализ биологически активных веществ: идентификация и определение содержания в смеси.

Исследования проводятся в рамках ГКПНИ «Химические реагенты и материалы», «Электроника», «Кристаллические и молекулярные структуры», «Нанотех»;

ГПОФИ «Физиологически активные ве щества», «Высокоэнергетические, ядерные и радиационные технологии»;

ГППИ «Полимерные ма териалы и технологии», «Водород»;

ГНТП «Химические технологии и производства» (подпрограм ма «Малотоннажная химия»), «Ресурсосбережение–2010», «Новые материалы и технологии–2010»

(подпрограммы «Новые материалы», «Алмазы и сверхтвердые материалы»), «Новые лекарственные средства» (подпрограмма «Лекарственные средства»).

Перечень основных методик измерений:

– сканирующая электронная микроскопия;

– просвечивающая электронная микроскопия;

– рентгеновская дифрактометрия монокристаллов;

– рентгеновская порошковая дифрактометрия;

– спектроскопия электронного парамагнитного резонанса;

– жидкостная хроматография высокого давления.

Центры коллективного пользования Министерства образования ОСНОВНОЕ НАУЧНОЕ ОБОРУДОВАНИЕ Сканирующий электронный микроскоп LEO- Назначение: анализ нанорельефа поверхности.

Технические характеристики:

Диапазон увеличений........... от 40 до 300 Год выпуска: 2001.

Просвечивающий электронный микроскоп LEO-906E Назначение: анализ формы микро- и нанообъектов.

Технические характеристики:

Диапазон увеличений................от 60 до 600 Год выпуска: 2001.

Рентгеновский дифрактометр ДРОН-3. Назначение: рентгенофазовый анализ веществ.

Технические характеристики:

Ускоряющее напряжение............... от 30 до 50 кВ Год выпуска: 1982.

Спектрометр электронного парамагнитного резонанса ERS- Назначение: регистрация спектров ЭПР твердых и жидких веществ.

Технические характеристики:

МВ-частота............................................. от 9,275 до 9,475 ГГц Напряженность поля.......................................... от 20 до 700 мТ Мощность клистрона................................................ 50 мВт Год выпуска: 1976.

Рентгеновский дифрактометр ДРОН-2. Назначение: рентгенофазовый анализ веществ.

Технические характеристики:

Ускоряющее напряжение................... от 30 до 50 кВ Год выпуска: 1977.

Рентгеновский дифрактометр HZG 4А Назначение: рентгенофазовый анализ поликристаллических веществ.

Технические характеристики:

Ускоряющее напряжение................... от 30 до 60 кВ Год выпуска: 1984.

Центры коллективного пользования Министерства образования Хроматографическая система высокого давления LC 10AD Назначение: анализ соединений различной природы (белки, сте роиды, витамины, компоненты нуклеиновых кислот, ферменты).

Технические характеристики:

Спектральный диапазон................ от 190 до 900 нм Фотодиодная матрица..................... SPD-M10A Год выпуска: 1998.

Рентгеновский дифрактометр Nicolet R3m Назначение: установление структуры кристаллических ве ществ на монокристаллах.

Технические характеристики:

Четырехкружная гониометрическая система Ускоряющее напряжение............ от 30 до 60 кВ Год выпуска: 1980.

Прибор для совмещенного термогравиметрического и дифференциального термического анализа STA 449 UPITER Назначение: проведение совмещенного термогравимет рического и дифференциального термического анализа.

Технические характеристики:

Рабочий диапазон температур........от комнатной до 1500 °C Скорость сканирования............. 0–50 К/мин Вакуумирование печи, продувка различными рабочими газами Год выпуска: 2006.

Центры коллективного пользования Министерства образования Центр коллективного пользования «Биоанализ» биологического факультета УО «Белорусский государственный университет»

Организация: УО «Белорусский государственный университет»

Руководитель: Абламейко Сергей Владимирович Адрес: 220050, Минск, пр. Скорины, Контакты: тел. 209-52-38, ponariadov@bsu.by Руководитель ЦКП: Шолух Михаил Васильевич Адрес: Минск, ул. Курчатова, Контакты: тел. 209-58-97, факс 209-58-51, sholukh@bsu.by Дата создания: 2000 г.

Главные направления исследований:

– биохимия, молекулярная биология, генетическая инженерия, биотехнология;

– хроматографический и электрофоретический анализ органических соединений;

– спектрофотометрирование, спектрофлуориметрирование;

– радиоиммунологический и иммуноферментный анализ;

– радиоизотопные исследования;

– ПЦР в реальном времени, определение нуклеотидной последовательности нуклеиновых кислот.

Перечень основных методик измерений:

– высокоэффективная жидкостная хроматография и хромато-масс-спектрометрия пептидов, фла воноидов, антибиотиков, низкомолекулярных биологически активных соединений;

– препаративное выделение и очистка белков из животных и растительных тканей, а также из микроорганизмов;

– спектрофотометрический и спектрофлуориметрический анализ белков, ферментов и низкомо лекулярных биологически активных органических соединений;

– электрофоретическое разделение и последующая детекция флуоресцентно меченых молекул ДНК различного размера, секвенирование, RFLP и AFLP анализ фрагментов ДНК;

– радиоиммунологический анализ, определение активности аденилатциклазы, фосфодиэстера зы, содержание АМФ в биопробах;

– иммуноферментный и иммунофлуоресцентный анализ.

ОСНОВНОЕ НАУЧНОЕ ОБОРУДОВАНИЕ Жидкостной хроматограф ACTA FPLC (Fast Protein Liquid Chromatograph) Назначение: разделение и очистка белков и нуклеиновых кислот с помощью ионообменной, адсорбционной, гидро фобной и гель-фильтрационной хроматографий. Позво ляет нарабатывать полупрепаративные количества очи щенных препаратов.

Центры коллективного пользования Министерства образования Технические характеристики:


Снабжен ультрафиолетовым детектором, обеспечивающим регистрацию оптической плотности элюатата на длинах волн 254 и 280 нм. Имеет кондуктометрический и рН-метрический детекторы.

Год выпуска: 1999.

Жидкостный хроматограф высокого давления с масс-спектрометрическим детектором LCMS-QP8000а Назначение: разделение, спектрометрический и масс-спектро метрический анализ сложной смеси органических соединений.

Технические характеристики:

Диапазон:

– определения молекулярных масс.... от 10 до 2000 Да – спектрофотометрического детектора.. от 190 до 870 нм – спектрофлуорометрического детектора................................................ от 200 до 650 нм Год выпуска: 2002.

Гамма-счетчик 1470 Wizard Назначение: лабораторные работы с гамма-нуклидами.

Технические характеристики:

Емкость контейнера...............550 образцов Библиотека изотопов............ на 46 нуклидов Год выпуска: 2002.

Рефрижераторная центрифуга Beckman Назначение: разделение клеток и субклеточных частиц.

Технические характеристики:

Максимальная скорость........................ 8000 об./мин Набор роторов, включая горизонтальный Максимальный объем................................ 3 л Год выпуска: 2000.

Рефрижераторная центрифуга 3K Назначение: разделение клеток и субклеточных частиц.

Технические характеристики:

Максимальная скорость........................ 8000 об./мин Набор роторов, включая горизонтальный Максимальный объем................................ 3 л Год выпуска: 2000.

Центры коллективного пользования Министерства образования Рефрижераторная центрифуга 6К Назначение: препаративное разделение клеток и субклеточных частиц.

Технические характеристики:

Скорость............................................от 100 до 20 000 об./мин Объем проб.............................................. от 1,5 до 3000 мл Набор роторов Год выпуска: 2002.

Микроскоп Axiovert Назначение: изучение объектов в проходящем свете с исполь зованием люминесценции, фазового контраста, темного поля.

Технические характеристики:

Подключен к ЭВМ Год выпуска: 2002.

Модульный ферментер Назначение: непрерывное культивирование микроорганизмов в услови ях контроля температуры, кислотности среды и содержания кислорода.

Технические характеристики:

Объем.......................................... 3 л Имеет систему поддержания постоянной температуры Год выпуска: 2000.

Фотометр планшетный Multiskan Accent Назначение: иммуноферментный анализ и автоматическое измерение пропускания жидкостей.

Технические характеристики:

Диапазон длин волн............. от 340 до 695 нм Имеет функцию встряхивания проб и термостатирования............. от +20 до +50 °С Управляется компьютером Снабжен программой обработки данных Год выпуска: 2003.

Спектрофлуориметр Cary Eclipse Назначение: измерения спектров возбуждения и испускания.

Технические характеристики:

Диапазон длин волн.............. от 200 до 800 нм Имеется возможность работы со стандартными кюветами (1 см) и 96-луночными планшетами Год выпуска: 2003.

Центры коллективного пользования Министерства образования Спекторофотометр Cary 50 Bio Назначение: спектральные и кинетические измерения в термостатируемых кюветах.

Технические характеристики:

Диапазон длин волн............. от 190 до 1100 нм Максимальная скорость сканирования................... 24 000 нм/мин Шаг.............................. 0,5–5 нм Частота сбора кинетических данных....... 80 точек/с Воспроизводимость установки длин волн..... 0,004 А Год выпуска: 2003.

Автоматический лазерный флуоресцентный анализатор ДНК ALFexpress II Назначение: определение нуклеотидной последовательности нуклеиновых кислот методом элек трофоретического разделения и последующая детекция флуоресцентно-меченых молекул ДНК раз личного размера.

Технические характеристики:

Одновременный анализ 10 образцов Разделение фрагментов нуклеиновых кислот при 1200 В, 40 мА Год выпуска: 2003.

Спекторофотометр Саry Назначение: измерение спектров поглощения в оптическом диапазоне, кинетические измере ния, исследование процессов термоденатурации, ренатурации и агрегации биополимеров.

Технические характеристики:

Диапазон длин волн........от 190 до 900 нм Программируемая щель......от 0,2 до 0,4 нм Частота сбора кинетических данных................................1800 точек/мин Максимальная скорость сканирования................................3000 нм/мин Шаг.................................................... от 0,02 до 1,67 нм Год выпуска: 2003.

Ультранизкий морозильник-85 0С Heraus Назначение: длительное хранение биологических образцов и реакти вов при низких температурах.

Технические характеристики:

Температура.................................. –85 °С Рабочий объем камеры............................ 300 л Год выпуска: 2003.

Центры коллективного пользования Министерства образования Жидкостной хроматограф высокого давления AGILENT Назначение: разделение и анализ сложных смесей органических соединений, включая лекарственные препараты, различные веще ства биологических жидкостей, продуктов питания, сахара, объекты окружающей среды и др.

Технические характеристики:

Диапазон регистрации:

– спектрофотометрического детектора.......... 190–900 нм – рефрактометрического детектора........... ±600·10–6RIU Температурный режим.......... от +5 до +80 °С с шагом 0,1 °С Год выпуска: 2003.

Газовый хроматограф AGILENT Назначение: количественный анализ легкокипящих органических веществ (спирты, альдегиды, углеводороды, лекарственные препараты и др.), а так же анализ других веществ в виде их летучих производных (аминокислоты, сахара, жирные кислоты).

Технические характеристики:

Снабжен автоинжектором и масс-спектрометрическим детектором Точность поддержания температур термостата, испарителя и детектора лучше, чем 0,1 °С Год выпуска: 2006.

Хроматографическая система BioLogic LP Назначение: аналитическая и препаративная хромато графия белков, пептидов и других биомолекул при низком давлении.

Технические характеристики:

Включает системный контроллер с переключением на руч ной и автоматический режим и широкий набор программ.

Производительность:

– перистальтического насоса................................ от 0,02 до 20 мл/мин – система детектирования и регистрации.............................280 и 254 нм – коллектор фракций........................................на 120 пробирок Год выпуска: 2007.

Флуоресцентный микроскоп Eclipse 50i Назначение: проведение широкого круга исследований в области клеточной биологии с использованием иммуно цитохимических, цитогенетических и современных цитоло гических методов.

Технические характеристики:

Имеет встроенный спектрометр, предназначенный для исследования спектров испускания и поглощения флуо Центры коллективного пользования Министерства образования ресцирующих и не флуоресцирующих веществ непосредственно в клетках и других микроскопи ческих структурах Объективы................................. Plan 10/0,25, 20/0,5 и 60/0,11–0, Комплекты фильтров для:

– возбуждения................................................ 450–490 нм – наблюдения флуоресценции................................... 505 нм и более Спектральный диапазон..........................................400–1000 нм Год выпуска: 2005.

Комплект для структурно-функционального исследования клеток и тканей Назначение: проведение электрофизиологических иссле дований в одно- и двуэлектродных режимах.

Технические характеристики:

Включает инвертированный флуоресцентный микроскоп Axiovert 40CFL, (“Carl Zeiss”, Германия), антивибрационный стол INTRACEL Isolate System 2000 (“INTRACEL”, Англия), мик романипуляторы МР-85, (правый и левый), микроинжек тор, прибор для вытягивания микропипеток Р-97 (“Sutter Instruments”, США), усилитель СепеС1аmр 500В, преобразо ватель Digidata 1352 АРС Кit с и программное обеспечение рС1аmр 9.0 (“AXON. Inc.”, США).

Год выпуска: 2005.

Система ПЦР в реальном времени Назначение: многоцелевая система ПЦР в реальном времени в составе: термоциклер для ампли фикации нуклеиновых кислот DNA-Engine и детектор флуоресценции Chromo 4.

Технические характеристики:

Амплифицирующий модуль позволяет работать с пробирками (0,2 мл) и 96-луночными планшетами Максимальная скорость нагрева....................до 3 °C/с Температурный градиент........................ 30–105 °C С градиентом по блоку...................... не менее 24 °C Точность поддержания температуры................. ±0,3 °C Память................................ до 400 программ 4 оптических канала с возможностью мультиплексирования:

– возбуждения флуоресценции..................450–650 нм – детекции флуоресценции.....................515–730 нм Динамический диапазон................. не хуже 10 порядков Год выпуска: 2007.

Центры коллективного пользования Министерства образования Исследовательско-технологический центр коллективного пользования «Нанотехнологий и физической электроники» НИИ ПФП им. А.Н. Севченко Организация: УО «Белорусский государственный университет»


Руководитель: Абламейко Сергей Владимирович Адрес: 220050, Минск, пр. Скорины, Контакты: тел. 209-52-38, ponariadov@bsu.by Руководитель ЦКП: Комаров Фадей Фадеевич Адрес: 220064, Минск, ул. Курчатова, Контакты: тел. 212-48-33, 212-08-80, факс 278-04-17, 212-48-33, komarovF@bsu.by Дата создания: 1993 г.

Главные направления исследований:

– ионно-лучевое легирование материалов в диапазоне энергий 52500 кэВ;

– нанесение слоев металлов, полупроводников и диэлектриков толщиной от 1 нм до 10 мкм плаз менными, ионно-плазменными, ионно-ассистируемыми, лазерными методам и методом лазер ной фотохимии;

– нормирование наноструктурированных систем в полупроводниках, металлах и диэлектриках из пересыщенных твердых растворов, созданных высокодозной ионной имплантацией и мето дами планарной технологии;

– лазерная обработка оптически прозрачных материалов и пластмасс;

– количественный неразрушающий анализ по глубине объекта с помощью обратного резерфор довского рассеяния ОРР и выхода характеристического рентгеновского излучения (PIXE);

– неразрушающий анализ распределения дефектов структуры по глубине объекта методом ОРР с каналированием ионов;

– определение местоположения дефектов и примесных атомов в элементарной ячейке кристалла;

– измерение электрофизических и оптических характеристик твердотельных объектов;

– измерение вольт-амперных (I–V), вольт-фарадных (C–V) характеристик и DLTS-спектрометрия полупроводниковых материалов, структур и приборов нано- и микроэлектроники;

– трибомеханические испытания материалов (микротвердость, износ и коэффициент трения);

– фазовый и структурный анализ материалов просвечивающей электронной микроскопией и cross-section электронной микроскопией.

Перечень основных методик измерений:

– методики анализа структуры, типа дефектов и элементного состава по глубине объектов мето дом ОРР с каналированием ионов;

– методика прецизионного элементного анализа по выходу вторичного рентгеновского излуче ния, возбуждаемого ионами (PIXE);

– методики просвечивающей электронной микроскопии и электронной дифракции;

– методика подготовки материалов для просвечивающей и cross-section электронной микро скопии;

– методика cross-section электронной микроскопии;

– методика контроля тонких и сверхтонких слоев материалов методом лазерной эллипсометрии;

– методики измерений электрофизических параметров материалов и приборных структур (I–V, C–V, холловские измерения);

Центры коллективного пользования Министерства образования – методика нестационарной емкостной спектроскопии глубоких уровней (DLTS);

– методики контроля оптических характеристик материалов и приборных структур (ИК-спектро скопия, рамановская спектроскопия);

– методики контроля адгезии и трибомеханических свойств;

– методика определения местоположения атомов в элементарной ячейке кристалла по канали рованию ионов.

ОСНОВНОЕ НАУЧНОЕ ОБОРУДОВАНИЕ Исследовательско-имплантационный ускорительный комплекс ЭСУ- Назначение: исследования по физике взаимодействия ускоренных в широком энергетическом диапазоне ионов с поверхностью твер дых тел;

изучение эффектов, связанных с каналированием ионов в кристаллах;

прецизионные измерения потерь энергии при про хождении ионов через материалы различного состава;

исследова ния состава и распределения примесей в объеме твердотельных мишеней методами ионноиндуцированного характеристического рентгеновского излучения и резерфордовского обратного рассе яния ионов в сочетании с каналированием с использованием как полупроводникового детектора ионов, так и электростатического анализатора энергии;

имплантация с использованием ионных пуч ков с очень малыми энергетическим разбросом и плотностью пуч ка при разработке физико-технологических основ модификации свойств твердых тел.

Технические характеристики:

Энергетическое разрешение...................... 0,7% Приповерхностное разрешение по глубине при использовании атомарных ионов водорода с энергией 300 кэВ.............................. 0,3 нм Имплантация с использованием ионных пучков:

– с энергетическим разбросом..................................... менее 0,1% – с плотностью пучка.......................................... до 10 мкА/см Год выпуска: 1969, модернизирован в 2004 г.

Электростатический ускоритель AN- Назначение: исследование состава и распре деления примесей (методом ХРИ и РОР) и ион ной имплантации.

Технические характеристики:

Энергетическое разрешение:

– при измерении спектров ХРИ... 160 эВ – при измерении спектров РОР... 13 кэВ Объемная чувствительность определения концентрации примеси методом ХРИ......... 10- Разрешение по глубине методом РОР...................................... 5 нм Год выпуска: 1987, модернизирован в 2004 г.

Центры коллективного пользования Министерства образования Рамановский спектрометр RAMANOR U-1000 Jobyn Yvon Instruments S. A. Inc.

Назначение: регистрация рамановских спектров и спектров фотолюминесценции с возможностью регистрации в режиме счета фотонов. Это позволяет не только снимать спектры ФЛ, но и прово дить количественный анализ оптических свойств на молекулярном уровне (определять квантовый выход).

Технические характеристики:

Монохроматор:

– решетки............................................... 1800 штрихов/мм – фокусное расстояние................................................ 1 м – апертура........................................................ F/ – дисперсия.................................................. 9,23 см–1/мм – разрешение......................................... 0,15 см–1 при 579,1 нм – точность.............................................. ±1 см–1 на 5000 см– – воспроизводимость.............................................. 0,1 см– – спектральный интервал..................................от 322,5 нм до 910 нм – размер решеток.............................................. 110110 мм – шаг сканирования...............................................0,02 см– Источник оптических сигналов:

Аргоновый лазер непрерывного действия ( = 514,5 нм и 488,0 нм) Speсtra Physics model – мощность...................................................... 1,5 кВт – диаметр светового пучка............................................ 1,5 мм Камера для анализа макроскопических образцов снабжена F/1,8 отражательными коллекторны ми линзами, 90° и 180° коллекторными зеркалами, приспособлением для X, Y, Z позиционирова ния и держателями твердых и жидких образцов.

Камера для анализа микрообъектов включает:

– оптический исследовательский микроскоп OLYMPUS BH2, обеспечивающий наблюдение объектов в светлом и темном полях в проходящем и отраженном свете;

– снабженный высокоразрешающими планарными объективами MS PLAN (5x, 10x, 20x, 50x, 80x) и прецизионным сканирующим столиком со сканированием по осям X и Y в пределах 5580 мм;

– CCD видеокамеру (SONY, model AVC-D5CE) для наблюдения образца на экране;

– систему переключения на спектрометр для анализа выбранной точки образца.

Система многоканального детектирования IRY 700 включает:

– линейку кремниевых фотодиодов для слабых потоков (УФ ближний ИК-диапазон) – чувствительность.................................... 1 фотоэлектрон/импульс – время, необходимое для открытия окна................................. 3,5 нс Многоканальный детектор сопряжен с системой из четырех электронных модулей для обработки информации и позволяет проводить регистрацию спектрального состава света методом парал лельного детектирования, в отличие от последовательного детектирования в щелевых спектро метрах.

Электронный блок системы регистрации и управления SPECTRALINK обеспечивает управление прибором, регистрацию и вывод информации на персональный компьютер.

Год выпуска: 1987, модернизирован в 2004 г.

Центры коллективного пользования Министерства образования Спектрофотометр SPECORD-75 IR Назначение: анализ молекулярного состава и толщин тонких оптически прозрачных пленок по спектрам пропускания и от ражения, анализ оптических характеристик (коэффициент про пускания, коэффициент поглощения) материалов.

Технические характеристики:

Диапазон длин волн.......................................... от 2,5 до 45 мкм....................................... 1212 мм Локальность:............

......................................... 33 мм – для микрообразцов......

Разрешение:

– по пропусканию................................................... 1,5%.......................................... 2 см– – по длинам волн.........

Год выпуска: 1984.

Большой фотомикроскоп отраженного света NEOPHOT® Назначение: исследование морфологии поверхностей, анализ структурно-фазовых превращений, анализ дефектообразования;

входного контроля подложек и эпитаксиальных структур, вклю чая определение плотности дислокаций по ямкам травления и измерение толщин эпитаксиальных слоев, анализ отказов ИМС, измерение геометрических размеров топологии.

Технические характеристики:

Оптический микроскоп обеспечивает наблюдение объектов в режиме отраженного света с ис пользованием набора фильтров (зеленый, желтый, красный, серый, дневной свет) в светлом и темном поле с использованием фазового и интерференционного контрастов Диапазон увеличений.......................................... от 10 до 2000х Набор планапохроматических объективов....................... 6,3;

12,5;

25;

50;

100х Прецизионный сканирующий столик со сканированием по осям X и Y в пределах 5050 мм Электрический блок обеспечивает освещение объектов галогенной лампой накаливания 12 В 100 Вт или ксеноновой лампой СВД 150 Вт, а также фотосъемку с автоматическим регулировани ем экспозиции Микрофотографическое устройство обеспечивает съемку на фотопленку и фотопластинки в крупном (912) и сверхкрупном (1318) форматах Год выпуска: 1983.

Просвечивающий электронный микроскоп ЭМ- Назначение: проведение исследований микроструктуры и фазового состава объектов.

Центры коллективного пользования Министерства образования Технические характеристики:

Предельная разрешающая способность:

– по кристаллической решетке......................................... 0,2 нм – по точкам...................................................... 0,3 нм Диапазон электронно-оптического увеличения......................от 100 до 850 000х Эффективная длина дифракционной камеры в режиме микродифракции....................................... 125–2000 мм Предельный угол наклона пучка........................................ 3 град Ускоряющее напряжение................................... 25, 50, 75, 100, 125 кВ Относительная нестабильность:

.................... не более 2·10–6 мин– – ускоряющего напряжения.............

.................... не более 1·10–6 мин– – тока объективной линзы..............

....................... не более 10–4 Па Остаточное давление в колонне...........

Год выпуска: 1988.

Просвечивающий электронный микроскоп ЭМ-125м Назначение: проведение структурных и фазовых исследований различных материалов микроэлектроники: металлов, полупроводников, диэлектриков.

ЭМ-125м позволяет получать прямое разрешение решетки отдельных крис таллических материалов, производить визуальное наблюдение и получать цифровые изображения высокого разрешения объектов исследования.

Технические характеристики:

Разрешающая способность:

– по решетке:

гарантированное................................................ 0,2 нм достижимое................................................... 0,14 нм – по точкам..................................................... 0,35 нм Диапазон электронно-оптического увеличения...................... 50–1 300 000 крат Диаметр области микродифракции................................... 0,5–20 мкм Угол наклона гониометра.............................................. ±30° Ускоряющее напряжение.......................................... 25–125 кВт Относительная нестабильность:

.................... не более 1·10–6 мин– – ускоряющего напряжения.............

.................... не более 1·10–6 мин– – тока объективной линзы..............

......................... менее 10–4 Па Остаточное давление в колонне...........

Год выпуска: 1984, модернизирован в 2007 г.

Установка прецизионного ионного утонения Gatan PIPS Назначение: приготовление тонких фольг образцов различных металли ческих, полупроводниковых и диэлектрических материалов;

приготов ление образцов из различных материалов, пригодных для исследования методом просвечивающей электронной микроскопии в геометриях plan view и cross-section, прецизионное утонение гетероструктур.

Технические характеристики:

Углы падения ионных пучков на образец.............. –10–+10 ° Энергия ионных пучков......................... 1,5–6 кэВ Максимальная плотность ионного тока.............. 10 мА/см Центры коллективного пользования Министерства образования Скорость вращения образцов...................................... 1–6 об./мин Время смены образцов............................................ менее 30 с Год выпуска: 2007.

Универсальный лабораторно-исследовательский комплекс (УЛИК) для проведения исследований в области технологии электронных производств и химии твердого тела Назначение: УЛИК представляет собой единичное изделие и предназначен для выполнения лабораторных работ студентами факультета радиофизики и электроники БГУ, а также других заин тересованных вузов республики по аналогичным курсам.

Состав:

– универсальный лабораторный стенд по химии твердого тела;

– универсальный лабораторный стенд по технологии электрон ных производств;

– измерительная линейка для контроля линейных размеров элементов топологии и толщины функциональных слоев в мик роэлектронике, оптических и электрофизических свойств мате риалов и приборных структур;

– компьютерный класс для моделирования технологических процессов изготовления интегральных схем и обработки ре зультатов лабораторных работ с выходом в Интернет и внут ренней локальной сетью;

– универсальный лабораторно-исследовательский комплекс состоит из 23 рабочих мест.

Год выпуска: 2007.

Многофункциональный лазерный комплекс для обработки материалов ELS- Назначение: формирование в автоматическом режиме объемных изображений различной степени сложности внутри оптически прозрачных материалов, прецизионная обработка поверхности металлов, полупроводников, диэлектриков, полимеров.

Состав: лазер твердотельный импульсный на алюмоиттриевом гранате с частотой следования импульсов до 50 Гц, система ска нирования на основе трехкоординатного стола с программным управлением, специальную оптическую систему фокусировки и от клонения лазерного луча.

Технические характеристики:

Рабочая длина волны............................................... 1064 нм Энергия импульса излучения......................................... 100 мДж Диаметр пятна фокусировки:

– в стекле.................................................. 100–200 мкм – на поверхности непрозрачных материалов.............................0,05–5 мм Параметры системы сканирования:

60170100 мм – максимальные размеры рабочей области.........................

– точность позиционирования........................................±50 мкм – минимальный шаг................................................10 мкм – масса перемещаемого груза......................................... до 5 кг Потребляемая мощность............................................ до 3 кВт Год выпуска: 1999.

Центры коллективного пользования Министерства образования Многофункциональный лазерный комплекс для обработки материалов ELS-02M Назначение: направленная модификация оптических па раметров прозрачных материалов, формирование в авто матическом режиме объемных изображений различной степени сложности внутри оптически прозрачных неорга нических и органических материалов;

прецизионная обра ботка поверхности металлов, полупроводников, диэлект риков, полимеров.

Технические характеристики:

Рабочая длина волны.............. 532 и 1064 нм Энергия импульса излучения..............10 мДж Диаметр пятна фокусировки:

– в стекле................... от 50 до 200 мкм – на поверхности непрозрачных.... от 0,05 до 2 мм материалов...............

Максимальные размеры.240310100 мм рабочей области..............

Точность позиционирования............. ±20 мкм Повторяемость...................... ±10 мкм Минимальный шаг..................... 10 мкм Масса перемещаемого груза.............. до 7 кг Год выпуска: 2003.

Установка вакуумного нанесения УВНРЭ.Э-0,45- Назначение: нанесение однослойных и многослойных пленочных покрытий методами резистивного и электрон но-лучевого осаждения.

Технические характеристики:

– предельное остаточное давление в рабочей камере составляет не более 66 мкПа;

– электронно-лучевые испарители обеспечивают ре гулировку тока луча от 0,01 до 1 А при ускоряющем напряжении 10 кВ;

– установка обеспечивает регулировку мощности ре зистивных испарителей от 200 до 2000 Вт;



Pages:     | 1 || 3 | 4 |
 





 
© 2013 www.libed.ru - «Бесплатная библиотека научно-практических конференций»

Материалы этого сайта размещены для ознакомления, все права принадлежат их авторам.
Если Вы не согласны с тем, что Ваш материал размещён на этом сайте, пожалуйста, напишите нам, мы в течении 1-2 рабочих дней удалим его.