авторефераты диссертаций БЕСПЛАТНАЯ БИБЛИОТЕКА РОССИИ

КОНФЕРЕНЦИИ, КНИГИ, ПОСОБИЯ, НАУЧНЫЕ ИЗДАНИЯ

<< ГЛАВНАЯ
АГРОИНЖЕНЕРИЯ
АСТРОНОМИЯ
БЕЗОПАСНОСТЬ
БИОЛОГИЯ
ЗЕМЛЯ
ИНФОРМАТИКА
ИСКУССТВОВЕДЕНИЕ
ИСТОРИЯ
КУЛЬТУРОЛОГИЯ
МАШИНОСТРОЕНИЕ
МЕДИЦИНА
МЕТАЛЛУРГИЯ
МЕХАНИКА
ПЕДАГОГИКА
ПОЛИТИКА
ПРИБОРОСТРОЕНИЕ
ПРОДОВОЛЬСТВИЕ
ПСИХОЛОГИЯ
РАДИОТЕХНИКА
СЕЛЬСКОЕ ХОЗЯЙСТВО
СОЦИОЛОГИЯ
СТРОИТЕЛЬСТВО
ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
ТРАНСПОРТ
ФАРМАЦЕВТИКА
ФИЗИКА
ФИЗИОЛОГИЯ
ФИЛОЛОГИЯ
ФИЛОСОФИЯ
ХИМИЯ
ЭКОНОМИКА
ЭЛЕКТРОТЕХНИКА
ЭНЕРГЕТИКА
ЮРИСПРУДЕНЦИЯ
ЯЗЫКОЗНАНИЕ
РАЗНОЕ
КОНТАКТЫ


Pages:     | 1 |   ...   | 2 | 3 || 5 | 6 |   ...   | 16 |

«МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ САНКТ-ПЕТЕРБУРГСКИЙ НАЦИОНАЛЬНЫЙ ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ ИНФОРМАЦИОННЫХ ТЕХНОЛОГИЙ, МЕХАНИКИ ...»

-- [ Страница 4 ] --

Научный руководитель – д.т.н.I профессор В.А. Зверев Конструкция призм определяется решаемой ими в оптической схеме функциональной= задачейK= В результате многолетнего опыта применения из множества возможных= конструкций определились типовые конструкции призмI= их модификации и сочетанияI= наиболее широко применяемые в практике проектирования оптических системK= При= разработке конструкции призмы в качестве конструкторской базы принимается плоскость= главного сеченияI= т.еK= плоскость перпендикулярная линиям пересечения рабочих= поверхностей= EгранейF= призмыK= В общем случае погрешности изготовления приводят к= отклонению углов призм от номинальных значений в плоскости главного сечения и к= нарушению компланарности нормалей к их гранямI= аI= следовательноI= к изменению= направления выходящего из призмы осевого лучаI= т.еK= к рассогласованию направления= оптической оси до зеркально-призменной системы с направлением оптической оси= последующей части оптической системыK= А этоI= в свою очередьI= приводит к наклону= плоскости изображенияI= к его повороту и появлению аберрацийI= характерных для= изображенияI=образованного децентрированной системой поверхностейK=Задача определения= допустимых величин погрешностей изготовления и установки призм в оптической системе= решается путем расчета хода лучей через систему плоских преломляющих и отражающих= поверхностейK= Для решения этой задачи применим закон преломления в векторной формеI= наиболее= полно выражающей его содержаниеK= В результате последующих преобразований получаем= выражениеI= определяющее орт преломленного лучаI= в виде определителяK= Применив= принцип доказательства по методу полной= EматематическойF= индукцииI= показана= справедливость полученного определителя для вычисления орта лучаI= преломленного= системой плоских произвольно расположенных преломляющих поверхностейK= ПоказаноI=что закон преломления в векторной форме применим и в случае определения= орта лучаI= отраженного плоской поверхностьюK= В результате последующих преобразований= получено выражениеI= определяющее орт отраженного лучаI= в виде определителяK= Методом= полной=EматематическойF=индукции доказана справедливость полученного определителя для= вычисления орта лучаI= отраженного системой плоских произвольно расположенных= отражающих поверхностейK= Приведены выражения в форме определителейI= позволяющие определить угол между= заданным направлением= EнапримерI= между ортом падающего лучаF= и ортом преломленного= или отраженного системой произвольно расположенных плоских поверхностейK= = = = SS= = УДК=RPRKPT= ЧИСЛЕННОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ МЕРЦАЮЩЕЙ ФЛУОРЕСЦЕНЦИИ ОДИНОЧНЫХ КОЛЛОИДНЫХ НАНОКРИСТАЛЛОВ CdpeLCdp В.В. Шулежко (Ульяновский государственный университетF= Научный руководитель – к.ф.-м.н.I доцент Р.Т. Сибатов (Ульяновский государственный университетF= = В работе численно моделируется процесс мерцания коллоидных квантовых точек= CdpeLCdpI= согласующийся с выявленными статистическими характеристиками результатов= экспериментаI= выполненного методом счета одиночных фотонов при постоянном лазерном= возбужденииI= используемого для исследования мерцающей флуоресценцииK= Учет всех= статистических закономерностей необходим для построения физической модели мерцания= квантовых точекI= которая отсутствует в настоящий моментK= В результате анализа было= показано наличие как минимум двух процессовI= обладающих экспоненциальным= распределением и степенным распределением с показателем= a близким к=NK= Преимуществом метода счета одиночных фотонов при постоянном лазерном= возбуждении перед исследованием статистики= lkLlcc= интервалов= xNI=Oz= является= возможность исследовать непосредственно большие времена между приходами фотоновI= относящиеся к степенной части распределенияK= Выбор функции дискриминатора критичен= при использовании=lkLlcc=интервалов=xPI=4zI=а метод счета одиночных фотонов свободен от= такого недостатка= xRzK= Характерными особенностями распределения времен ожидания= фотонов является наличие степенной части с наклоном= –OKTU= иI= похожего на усечение= распределенияI=участка на очень больших временахI=которыйI=по предположениюI=получался= из-за потока шумовых фотоновK= Численное моделирование показалоI= что предположение не= подтверждаетсяI=этому=…усечению»=соответствует реальный физический процессK= В результате численного моделирования методом Монте-Карло удалось добиться= совпадения форм распределенияK= Это получается сверткой экспоненциального и степенного= распределенийI= имеющей смысл суммы двух случайных величинK= Экспоненциальный= процесс имеет характерное время= OM=мксI= степенной процесс имеет показатель степени= близкий к=NK=Автокорреляционная функция для временного рядаI=состоящего из промежутков= времени между приходом фотонов обладает длиннопериодными корреляциями= –= феномен= «памяти»= в процессе мерцанияK= Так жеI= АКФ экспоненциально убывает на больших лагахI= это говорит об эргодичности процессаI=он обладает=…конечной памятью»K= Статистические моделиI=рассмотренные в работах=xSI=Tz=относятся к статистике=lkLlcc= интервалов и основаны на дробном обобщении процессов восстановленияI=но не учитывают= длиннопериодных корреляций во временах между фотонамиK= В результате анализа и численного моделирования удалось найти характерное время= экспоненциального процессаI= установитьI= что показатель степенного распределения= a = близко к=NI=излом в гистограмме распределения времен не является следствием однородного= потока шумовых фотоновI= но не удалось объяснить наличие длинных корреляций во= временахI= убывающих экспоненциально= Eконечная= …память процесса»FI= и однородность= совместного распределенияK= Сопоставление полученных результатов конкретным= физическим моделям остается задачей на будущееK= Эксперимент выполнен группой С.АK=Амброзевича=EФИАНFK= = Работа выполнена в рамках государственного задания Минобрнауки РФ= OKNUV4KOMNNI= гранта РФФИ=NMJMNJMMSMUаK= = = ST= = Литература NK= MK=huno=et=~lKI=gK=ChemK=mhysKI=solK=NNRI=koK=OI=NMOUJNM4M=EOMMNFK= OK= hK=qK=phimizu=et=~lKI=mhysK=oevK=_=SPI=OMRPNS=EOMMNFK= PK= CK=eK=Crouch=et=~lKI=k~no=iettKI=NMI=NSVOJNSVU=EOMNMFK= 4K= cK=aK=ptef~ni=et=~lKI=kew=gK=of=mhysK=TI=NVT=EOMMRFK= RK= mK=eK=pher=et=~lKI=ApplK=mhysK=iettK=VOI=NMNNNN=EOMMUFK= SK= oK=qK=pib~tovI=sK=sK=rch~ikinI=lptK=i=ppektrKI=solK=NMUI=koK=RI=UM4–UNN=EOMNMFK= TK= ВK=ВK=УчайкинI=РK=ТK=СибатовI=ЖЭТФ=NPSI=4ENMF=EOMMVFK= = = УДК=RPRKRRN= = ОБЗОР МЕТОДОВ МАТЕМАТИЧЕСКОГО МОДЕЛИРОВАНИЯ ФИБРОЗНОЙ ОБОЛОЧКИ ГЛАЗА М.Е. КовшоваI Е.С. Малова Научный руководитель – к.т.н.I доцент В.А. Трофимов = При прохождении через роговицу глаза поляризованного света наблюдается картина= интерференции поляризованных лучей светаK=Она несет в себе большой объем информации о= томI= что на самом деле происходит в глазуK= Получаемая коноскопическая картина является= результатом действия различных биофизических факторовI=патологий и других отклоненийK= На основе проводимых экспериментов невозможно разобратьсяI= какие конкретно факторы= влияют на те или иные изменения это интерференционной картиныK= Поэтому возникает= необходимость построить математическую модельK= Данную проблему решали разные научные сообществаI= и целесообразным становится= рассмотреть различные моделиI= которые были построены в нашей стране и за рубежом за= последние=R–T=летK= Целью работы является осуществить краткий обзор методов математического= моделирования фиброзной оболочки глазаI= выполненных различными научными= коллективамиK= Наблюдаемая интерференционная картина поляризованного света тесно связана с= неоднородностью показателя преломления роговицыI= вызванного эффектом фотоупругостиI= который возникает в глазу под действием механических напряженийK= В работе рассмотрены взаимодействия поляризованного света с двулучепреломленной= средойI=а также выполнен анализ схем регистрации интерференционных картинK= Рассмотрены различные математические моделиI=в различной степени учитывающие те= или иные биофизические факторыI= вызывающие неоднородность показателя преломленияK= Кроме тогоI= отмечены их достоинства и недостаткиK= Сформулирована цель разработки= универсальной математической моделиI= которая будет учитывать несовершенства= предыдущих разработокK= = = = SU= = УДК=SUNKTURKS= = ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ МЕТОД КОНТРОЛЯ ФОРМЫ ВЫПУКЛЫХ АСФЕРИЧЕСКИХ ЗЕРКАЛ В.И. БатшевI О.В. Польщикова (Московский государственный технический университет имK=Н.ЭK=БауманаF= Научный руководитель – д.т.н.I профессор Д.Т. Пуряев (Московский государственный технический университет имK=Н.ЭK=БауманаF= = Использование в оптических приборах асферических поверхностей= EАПF= позволяет= расширить возможности и область применения приборовI= упростить оптические системы= при одновременном улучшении их оптических характеристикK= Наряду с методами= изготовления АП необходимо располагать методами контроля их формыK= Разнообразие= методов изготовления и контроля обеспечит создание системI=включающих АП необходимой= сложной формы и высокой точностиK= Задача контроля вогнутых АП успешно решается компенсационным методомI=методом= ГартманаI=пентапризм и дрK=В случае выпуклых АП отраженные лучи будут расходящимисяI= и для их анализа потребуются вспомогательные элементы большого диаметраI= что= существенно увеличивает стоимость деталиK= Контроль формы по методу Хиндла для= выпуклых гиперболических поверхностей предполагает наличие эталонного зеркала=Eсферы= ХиндлаFI= диаметр которого существенно больше диаметра контролируемой АПK= Особенно= существенным этот недостаток становится в случае контроля крупныхI= напримерI= астрономических зеркалK= Поэтому разработка новых методов контроля выпуклых АПI= лишенных указанных недостатковI=является актуальной задачейK= В основе предлагаемого интерференционного метода контроля формы выпуклой АП= лежит идея освещения контролируемой АП сферическом волновым фронтомI=центр которого= расположен на конечном расстоянии от вершины зеркалаK= Интерференционная картина= возникает при взаимодействии двух волновых фронтовW= один из них= –= объектный= –= отражается от контролируемой АПI= другой= –= опорный= –= распространяется минуя АП в= плоскость регистрации интерферограммыI= расположенную параллельно оси симметрии= контролируемой АПK= Расположение источника излучения относительно вершины= контролируемой АП можно подобрать таким образомI= чтобы размеры интерферограммы не= превышали диаметра АПK= Процедура контроля АП заключается в сравнении координат зарегистрированных= интерференционных полос с их теоретическими значениямиI=которые могут быть получены в= результате математического моделированияK= Целью работы является разработка алгоритма построения теоретического вида= интерферограммыK= Для достижения поставленной цели в качестве исходных данных задаютсяW= меридиональный профиль АПI= световой диаметр АПI= расстояние от АП до плоскости= регистрацииI= длина волны источника излучения и его координаты относительно вершины= АПK= Строится ход лучей в оптической системе и производится расчет оптической разности= хода и распределения интенсивности в интерферограммеK= Для нахождения координат= максимумов интерференционной картины применяется метод Ньютона=EкасательныхFK= В результате работы разработан алгоритм построения теоретического вида= интерферограммы и определения координат интерференционных полос при заданной форме= контролируемой АПK= = = = SV= = УДК=SUNKTURKS= = ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ КОНТРОЛЯ ФОРМЫ КРУПНОГАБАРИТНЫХ СФЕРИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ Е.А. Дуденкова (Московский государственный технический университет имK=Н.ЭK=БауманаF= Научный руководитель – к.т.н.I доцент Н.Л. Лазарева (Московский государственный технический университет имK=Н.ЭK=БауманаF= = Контроль формы выпуклых сферических поверхностей часто выполняют на= двухлучевых интерферометрахK= Контролируемую сферу помещают в измерительную ветвь= интерферометра и направляют на нее= = гомоцентрический пучок лучейI= причем все лучи= должны падать на сферу по нормалямK= Чтобы это обеспечитьI= в интерферометре должен= содержаться идеальный объективI=создающий сходящийся гомоцентрический пучок лучейK= Когда контролируемая сфера выпуклаяI= диаметр объектива оказывается больше= диаметра сферыK= Цель работы заключается в разработке нового объектива-монохроматаI= состоящего из= сменной двояковогнутой линзы и вогнутого зеркалаK= Форма вогнутого зеркала сферическая с радиусом кривизны= rMZOMMM= ммK= Диаметр= D= зеркала не более= NMMM=ммK= Объектив-монохромат должен формировать плоский или= сферический волновые фронтыI=остаточная волновая аберрация которых не более=MIMR=l=Eдля= длины волны=lZMISPOU=мкмFK== Конструктивная особенность линзы заключается в томI= центр= кривизны ее первой по ходу лучей поверхности располагается в предметной точкеK== Промежуточные итоги работыW= NK= анализ= = методов контроля выпуклых сферических поверхностей показалI= что= наиболее распространенным является метод переналожения пробных стеколK=Однако= его использование для контроля высокоапертурных зеркал связано с большой= трудоемкостьюX= OK= в результате анализа серийно выпускаемых сферических поверхностей= сформулированы требования к объективу-монохроматуW= он должен формировать= плоские и сферические волновые фронтыI=сферическая аберрация которых не более= MIMRX= PK= проведен сравнительный анализ оптических систем с использованием линзы= Манжена и линзы с эталонной поверхностьюX=предпочтительным оказался вариант с= использованием линза МанженаI= так как в этом случае интерферометр имеет= существенно меньшие габаритыK= В данной работе рассчитан новый вариант объектива-монохромата для интерферометра= для контроля выпуклых сферических поверхностейK= Расчет производился в программе= …wemаx»K= В ходе расчетов достигнута требуемая аберрационная коррекцияW= остаточная= волновая аберрация не превышает=MIMR=lK=Данные были систематизированы в таблицыI=были= рассчитаны величины необходимые для анализа= –= такие какW= диаметр мертвой зоныI= количество переналоженийI= размер компенсатораK= Для более наглядного сравнения систем= были построены и проанализированы графикиK= Также были рассмотрены достоинства и= недостатки системыK= = = = TM= = УДК=RPKMS= = ВОЗМОЖНОСТИ СИСТЕМ ЗАЩИТНОЙ МАРКИРОВКИ НА ОСНОВЕ ФЛЮОРЕСЦИРУЮЩИХ НАНОРАЗМЕРНЫХ СТРУКТУР А.С. Златов Научный руководитель – д.ф.-м.н.I вед.н.с.=В.А. Полищук = Рассматривается возможность применения флюоресцирующих наноразмерных= структур для маркировки различных объектовK=Сравниваются возможности меток на основе= люминесцирующих квантовых точек с меткамиI=полученных по другим технологиямK== Существует множество технологий создания защитных метокK=ТакI=для необходимости= массовой защиты с возможностью быстрой и удаленной идентификации защищенных меток= (напримерI= товаров на складе или в магазинеFI= отлично подходят= ocfaJметкиK= Они могут= легко считываться вне прямой видимости и при необходимости легко дезактивируютсяK== При необходимости защиты важных товаров или ценных документов от подделки= обычно используются водяные знакиI= микротекстI= голографические или люминесцентные= меткиK= Такие метки обычно не обладают большой информационной емкостьюI= их= невозможно считать вне прямой видимостиI= часто бывает трудно обнаружить и обычно= невозможно уничтожитьI=не повредив при этом защищаемый ими документK=Однако водяные= знаки и микротекст в последние десять лет= …благодаря»= широкому распространению= цветных принтеров с высоким разрешением печати научились легко подделыватьK= Голографические метки долгое время считались чрезвычайно надежными из-за тогоI=что для= их производства и копирования требуется дорогое оборудованиеK=Однако и это ограничение= смогли обойтиK= В связи с уменьшением надежности голографических метокI= значительно возрос= интерес к люминесцентным меткамI= применяемым для защиты ценных объектовK= Такие= метки также невозможно считать вне прямой видимости и для их печати требуется= специализированное оборудованиеK= В то же время для таких меток можно создать= специальные портативные и относительно дешевые считывающие сканерыK= Люминесцентные метки могут быть скрытымиI= потому что они внедряются прямо в= защищаемый предмет или упаковку и не являются для них инородным наклеиваемым= объектомI=какI=напримерI=метки=ocfaK= На основе люминофоров возможно создание набора самых различных= люминесцентных меток=–=от тонкопленочных структур различного цветаI=защитных нитей и= волоконI= тонких пленокI= с поляризованной люминесценцией и выраженной зависимостью= цвета люминесценции от угла наблюденияI= до динамических маркеровI= люминесцирующих= или меняющих цвет люминесценции за счет пьезоэффектов=Eтаких как изгиб или давлениеF= или изменения условий освещения=EцветI=поляризация или угол падения светаFK= В настоящее время в качестве люминофоров у таких меток обычно используются= люминесцирующие органические красители и микрочастицыI= допированные редкими= землямиK= Однако они обладают рядом существенных недостатков при создании метокI= основными из которых являются резкое уменьшение и так невысокого квантового выхода при= их введении в различные средыI= необходимость использования сложных источников света= для возбуждения этих люминофоровI=быстрое выцветание меток и невозможность создания= меток для ИК области спектра с длиной волны люминесценции более=N=мкмK= Эти недостатки легко преодолеваются в случае использования полупроводниковых= нанокристаллов=Eквантовых точекFI=которые при комнатной температуре обладают высокими= коэффициентами поглощения в широкой спектральной областиI= большим квантовым= выходом люминесценции в узкой спектральной полосе и фотостабильностью на=O–P=порядка= вышеI=чем таковая у известных органических люминесцентных метокK= = TN= = Таблица.=Сравнение характеристик различных меток= ocfa= Люминесцентные= (пассивные= Метки на основе= метки на основе= метки без= люминесцирующ Точечные= = органических или= их квантовых= коды= собственного= редкоземельных= источника= точек= красителей= питанияF= Чтение без прямой= Невозможно= Возможно= Невозможно= Невозможно= видимости метки= До=NMM= От=N=до=N=MMM=Eв= От=N=до=NM=MMM= Объем памятиI= (одномерныеF= От=NM=до=NM= зависимости от= (в зависимости от= байт= До=OM4U= MMM= устройства= устройства= (двумерныеF= меткиF= меткиF= Возможность= Нет= Есть= Нет= Нет= перезаписи данных= Дальность= До=NM=Eзависит= До=NM=Eзависит от= До=NMM=Eзависит= До=NM= регистрацииI=м= от размераF= размераF= от размераF= Одновременная= идентификация= Зависит от= До=OMM=меток= Зависит от= Зависит от= нескольких= считывателя= в секунду= считывателя= считывателя= объектов= Более=NM= Более=NM=Eзависит= (зависит от= Срок жизни меткиI= от материалаI=на= материалаI=на= Более=NM= Не более=R= лет= который= который= наноситсяF= наноситсяF= Возможность= Подделать= Подделать= Подделать= Подделать= создания подделки= возможно= сложно= сложно= сложно= Чтение поврежJ Возможно= Невозможно= Возможно= Возможно= денной метки= Стойкость к= электромагнитJ Высокая= Очень слабая= Высокая= Высокая= ным помехам= Использование= компактных= Да= Да= Да= Да= терминалов для= идентификации= Малый и= Средний и= Сверхмалый и= Малый и= Размер меток= сверхмалый= малый= средний= сверхмалый= Низкая и средняя= Стоимость= Низкая= Средняя= Средняя= (зависит от= сложности меткиF= Как видно из сравнительной таблицыI= люминесцентные метки на основе= наноразмерных структур суммарно заметно превосходят характеристики метокI= производимых по другим технологиям и использующихся в качестве защитныхK=Такие метки= хорошо подходят для создания системы защитной маркировкиI= а высокая временная= стабильность их характеристик и возможность производства меток в промышленных= объемах способны сделать такие системы защиты массовымиK= = TO= = ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННОЕ ПРИБОРОСТРОЕНИЕ = УДК=RPRKSRI=RPKMU= = ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННАЯ СИСТЕМА ЭКСПРЕСС-АНАЛИЗА РУД ТВЕРДЫХ ПОЛЕЗНЫХ ИСКОПАЕМЫХ А.

А. Алёхин Научный руководитель – к.т.н., доцент А.Н. Чертов = На сегодняшний день в связи со стабильным спросом на драгоценные металлы и камниI= при неуклонном снижении качества добываемых рудI= актуальным является поиск и= внедрение все более эффективныхI= с точки зрения выделения полезного компонентаI= современных методов обогащенияK= Одним из таких методов является фотометрическийI= применяя который уже на стадии добычи=E«на борту карьера»FI= возможно сократить объемы= горнорудной массыI= поступающей на последующее дроблениеI= выделить крупнокусковые= хвостыI=а также разделить горную массу на сортаI=которые затем будут перерабатываться по= определенным технологическим схемамK= Однако для того чтобы определитьI= какой из= существующих типов фотометрических сепараторов=Eпроизводства= Commod~sI=lptosort= или= дрKFI= отличающихся схемами организации процесса анализаI= используемыми цветовыми= моделямиI= алгоритмами принятия решенийI= наиболее пригоден для обогащения того или= иного типа рудыI= требуется предварительно осуществлять оценку ее обогатимости= фотометрическим методомK= Целью работы является разработка макета оптико-электронной системы для экспресс анализа руд твердых полезных ископаемыхI=реализующей метод анализа цветаK= На основании проведенных теоретических исследований особенностей поставленной= задачиI= а также существующих фотометрических сепараторов различных производителей= была предложена схема построения разрабатываемой оптико-электронной системыI= определены принцип ее работы и требования к режимам функционированияK= Предварительные экспериментальные исследования собранного макета позволили= выявить проблему искажения в процессе измерений исходной цветовой картиныI=следствием= которой может стать снижение различимости анализируемых минеральных образцов иI= в= конечном итогеI= эффективность работы всей системыK= Для устранения указанной проблемы= была предложена методика колориметрической калибровкиK= Основным направлением дальнейших исследований является проведение= экспериментальных исследований макета разрабатываемой системы на отобранных рудных= пробах с целью оценки верности цветоанализа и различимости минеральных образцов= оптико-электронной системой экспресс-анализаI= отработки методики ее колориметрической= калибровки и селективных алгоритмов при различных режимах ее функционированияK= = = УДК=SONKPTPKROS= = МЕТОДЫ ОБЕСПЕЧЕНИЯ ТЕРМОСТАБИЛЬНОСТИ ТЕЛЕСКОПОВ ДЛЯ НАБЛЮДЕНИЯ ЗА ЗЕМЛЕЙ С КРАТКОВРЕМЕННЫМИ ЦИКЛАМИ ФУНКЦИОНИРОВАНИЯ Ю.В. Баёва Научный руководитель – д.т.н., в.н.с. С.И. Ханков = Краткое вступление, постановка проблемы. Обеспечение термостабильности= космических телескопов дистанционного зондирования Земли= EДЗЗF= является важнейшей= задачейK= Обычно исследование теплового режима осуществляется на основе решения= уравнений теплообмена между всеми конструктивными элементами телескопаK=Такая задача= = TP= = решается численноK= При функционировании телескопа можно выделить различные= временные участки изменения температур оптических элементовK= Для телескопов ДЗЗ эти= изменения после открытия крышки и начала времени наблюдения осуществляются в виде= роста температур оптических элементовI= приводящих к термонаведенному смещению= фокальной плоскостиK= Для оптических элементов телескопа на первом временном участке= осуществляется рост температурI= пропорциональный времени работыI= затем наступает= нелинейная стадия нагреваI= завершающаяся установлением стационарного теплового= режимаK= Телескопы с различными циклограммами функционирования требуют отдельного= рассмотренияK= Для телескопов с кратковременным циклом функционирования возникает= возможность разработки аналитической методики расчета теплового режима и= термоаберраций такого класса телескоповK= = Цель работы. Разработка аналитической методики расчета теплового режима и= термоаберраций телескопа с кратковременными циклами функционированияI= позволяющей= существенно упростить вычисленияI= а также упрощающей выбор параметров системы= обеспечения теплового режима=EСОТРF=на начальной стадии проектированияK= = Базовые положения исследования. В основу методов исследования положен анализ= закономерности формирования температур оптических элементов телескопа в течение цикла= функционирования= Eвремени съемкиFK= На основе этих исследований оцениваются критерии= малого времени работыI= т.еK= продолжительность наблюдений и уровня перегрева в конце= начального линейного участка относительно стационарных значений перегревовK= Для= наглядности исследования проводились на примере телескопаI= базируемого на= микроспутнике с временем функционирования до=NM=минут с конкретной оптической схемой= (Ричи-КретьенаF= и с конкретными параметрамиK= В процессе исследований вычислялись= поглощаемые элементами телескопа тепловые потоки прямого солнечного излученияI= солнечного излученияI= отраженного ЗемлейI= а также собственного теплового излучения= ЗемлиK=Допустимые тепловые режимы определялись по расчету термонаведенного смещения= фокальной плоскостиI= которое должно было оставаться в пределах глубины резкости= оптической системыK= = Промежуточные результаты. В результате исследований установленоI= что для= телескопов рассматриваемого класса исходные дифференциальные уравнения= нестационарного теплового баланса можно свести к алгебраическим уравнениямI= включающим скорости нагреваK= В результате получены аналитические формулыI= описывающие скорости нагрева каждого элементаI= что позволяет путем умножения на= длительность функционирования быстро оценить перегревы оптических элементов в конце= цикла наблюденияK=Окончательный результат представляется в виде зависимостей величины= термонаведенного смещения фокальной плоскости от времени работыI= в том числе к= моменту окончания съемкиK= = Основной результат. Предложена новая аналитическая методика быстрой оценки= нестационарных приращений температур для телескопов ДЗЗ с кратковременным циклом= функционированияK= Для данного конкретного телескопа погрешности расчета температур= относительно точного решения исходной системы дифференциальных уравнений не= превышают= TBK= Основные результаты проведенных исследований представлены в виде= новой методики расчетаI= позволяющей многократно упростить процедуру выбора= параметров телескопа на начальной стадии проектированияI= минуя этап последовательных= рассмотрений различных вариантов технических решенийK=Преимущество данной методики= заключается в ее простотеI= практичностиK= Ограничение по возможности использования= данной методики связано только с циклограммами функционированияI=в частностиI=методика= = T4= = не применима при длительных периодах наблюденияK= = Выводы. Предложенная методика расчета применима ко всем телескопам космического= базирования независимо от их габаритовK=Различие может заключаться только в предельном= времени наблюденийK= Методика обеспечивает малую погрешность расчетов и позволяет= проводить оценки и выбирать параметры телескопов данного классаK= = = УДКW=RPRKPPWR4PK4O= = АВТОМАТИЗАЦИЯ ЛАЗЕРНОЙ ИДЕНТИФИКАЦИИ ТИПОВ СТРОИТЕЛЬНЫХ МАТЕРИАЛОВ М.А. Беляева Научный руководитель – к.т.н., доцент В.А. Трофимов = Мощное лазерное излучение применяется как в лазерной хирургииI =так и для= промышленных целей= EрезкаI= сверлениеI= сваркаI= маркировка материаловI= бурение и дрKFK= Зачастую для этих задач используются лазерные установки совместно с волоконно оптическим трактомK= При этом оптическое волокноI= по которому идет лазерное излучениеI= доставляется в труднодоступные места на большие расстояния и возникает ситуацияI= при= которой отсутствует возможность получения информации об обрабатываемом в текущий= момент времени материалеK= С другой стороны указанная информация иногда становится= необходимойI= поскольку от нее может зависеть результат проводимой операцииK= Поэтому= является актуальной разработка вспомогательного опто-электронного оборудованияI= обеспечивающего дистанционное определение типа материалаK= В то же время при= оборудовании объекта наиболее удобным является автоматическое определение типа= обрабатываемого в настоящее время материалаI= которое осуществляется при использовании= дополнительных технических и программных средствK= Автоматизация процесса может= способствовать как сокращению времени проведения анализаI=так и снижению требований к= квалификации оператораK= Одним из способов определения типа строительного материала может являться= использование эмиссионного спектрального анализа плазменного факелаI= возникающего в= зоне обработки поверхности материала лазерным излучениемK= В настоящей работе рассмотрена возможность автоматической дистанционной= идентификации типа строительного материала путем проведения спектрального анализа= плазменного факелаI= возникающего в зоне обработки материала с использованием= иттербиевого волоконного лазераK=Указанный тип лазера является наиболее перспективным с= точки зрения создания мощных малогабаритных лазерных установок с высоким КПД и= хорошим качеством лазерного излучения= Eмалой расходимостьюFK= Автоматизация процесса= заключается в использовании программного обеспечениеI= предназначенного для= автоматической обработки результатов спектрального анализаK= Основным принципомI= на= котором основана работа программыI= является создание базы эталонных спектрограмм= необходимых материалов и сравнение с ними спектрограммы исследуемого материала по= определенным критериямK= Особенностью реализации поставленной задачи является использование= одноволоконной схемы построения экспериментаI=при которой подача лазерного излучения и= перенос информации о плазменном факеле к спектрометру осуществляется по одному и тому= же волокнуK= Это позволяет проводить идентификацию типа материала без прерывания= процесса лазерной обработкиK= Таким образомI=в результате работыW= = TR= = NK= определена возможность идентификации некоторых строительных материалов путем= регистрации спектрограммы плазменного факелаI= возникающего в месте обработки= этого материала лазерным излучениемX= OK= определена возможность автоматизации процесса дистанционной идентификации= материалаX= PK= разработано и апробировано программное обеспечение для проведения= автоматического определения типа материалаK= = = УДК=RPRKR= = ОЦЕНКА МЕТОДИЧЕСКОЙ ПОГРЕШНОСТИ ПОЛЯРИЗАЦИОННОГО МЕТОДА КОНТРОЛЯ НЕСТАБИЛЬНОСТИ ОСИ ДИАГРАММЫ НАПРАВЛЕННОСТИ ЛАЗЕРНЫХ ИСТОЧНИКОВ А.С. Федосенко, М.А. Муратов Научный руководитель – к.т.н., доцент С.А. Алексеев = Краткое вступление, постановка проблемы. Использование лазера в качестве= источника излучения в схемах эллипсометров позволяет существенно повысить их= метрологические характеристикиK= Вместе с тем значительную погрешность в измерения= может вносить нестабильность пространственного положения оси диаграммы= направленности лазераK= Угловой дрейф оси диаграммы направленности лазерных= излучателей является в настоящее время одним из основных факторовI= ограничивающих= возможность реализации предельной чувствительности поляризационных измерений в= длинноволной области спектраK= = Целью работы является оценка методической погрешности измерения дрейфа оси= диаграммы направленностиI=основанного на регистрации поворота азимута поляризованного= излучения при отражении от контрольного объекта и последующем расчете указанной= величиныK= = Базовые положения исследования. В ходе исследования было установленоI =что= основными источниками методической погрешности разрабатываемого метода являютсяW= NK= погрешностиI= обусловленные линеаризацией зависимостей (F= и= А(F= в= окрестностях угла паденияK= Линеаризацией зависимостей (F= и= А(F= дает= систематическую методическую погрешностьI= зависящую от величины углового= дрейфа и в общем случае возрастающую с увеличением отклонения оси от= первоначального положенияX= OK= пренебрежение поперечным угловым дрейфом оси диаграммы направленностиK= Промежуточные результаты. В ходе анализа перечисленных выше источников= методической погрешности были полученыK= NK= ВыражениеI= позволяющее оценить погрешностиI= обусловленные линеаризацией= зависимостей (F= и= А(FK= Полученные зависимости относительной ошибки от= значения величины дрейфа показываютI= что общая погрешность возрастает с= увеличением показателя преломления= nK =При углах дрейфа до= N =и при= nZNIR= относительная ошибка не превосходит= MIORBK= Полученные зависимости также= позволяют оценить влияние угловой расходимости пучка на точность измеренияK= OK= ВыражениеI= позволяющее оценить составляющую методической погрешностиI= обусловленной поперечным относительно плоскости падения угловым дрейфом оси= диаграммы направленностиK= Поперечный угловой дрейф оси обуславливает= = TS= = достаточно малые изменения угла падения иI= вследствие этогоI= его вкладом можно= пренебречь при углах до=MIRK=Как следует из расчетной зависимости относительной= ошибки измерения дрейфа от величины поперечного дрейфаI= ее= Eотносительной= ошибкиF= величина не превышает= NBK= Данное обстоятельство также позволяет= проводить селективное измерение отдельных составляющих углового дрейфа в= выбранной системе координат путем соответствующей ориентации плоскости= падения излучения на диэлектрическую пластинуK= = Основной результат. В результате работы была произведена оценка методической= погрешности измерения дрейфа оси диаграммы направленности лазерных источниковK= = = УДК=RPRKPNI=SNT-T= = ОПТИЧЕСКАЯ СИСТЕМА ЖЕСТКОГО ЭНДОСКОПА А.С. Гаршин Научный руководитель – к.т.н., доцент А.В. Бахолдин Введение. Одним из важнейших методов диагностики различных заболеваний человека= является эндоскопияK= С помощью эндоскопической техники проводятся визуальный осмотр= внутренних полостей организма человекаI= биопсияI= хирургическое и терапевтическое= воздействие на биологические тканиK=Также возможно промывание полости и наполнение ее= воздухом или жидкостьюI= введение лекарственных растворовI= удаление новообразований и= инородных тел и т.дK= Кроме визуального наблюденияI= может проводиться фото-= и видео документирование отдельных этапов эндоскопииK= Работа выполнялась по заказу производственной фирмы= «Линза»K= Эта фирмаI= выпускающая медицинское оборудованиеI= имеет широкий модельный ряд эндоскопических= приборовW =лапароскопыI =бронхоскопыI =цистоуретроскопы и т.дK =Работа велась с оптической= трубкойI= являющейся базой для большинства жестких эндоскопов ПФ= «Линза»K= К= недостаткам этой трубки можно отнести окрашивание изображения в желтый цвет из-за= использования стекол с неравномерным пропусканием в видимой области= EТФ4= и ТФRFI= невысокое качество изображенияI =а также невозможность создания модификаций трубок= различной длины и недостаточная освещенность изображенияK= = Цель работы. Расчет унифицированных компонентов оптической схемы жесткого= эндоскопаK= = Теоретическая часть. Жесткие эндоскопы состоят из объективаI= линзовой системы= передачи изображения и окуляраK= Линзовая система передачи изображения включает в себя= несколько последовательно расположенных линзовых оборачивающих систем с= коллективными линзами между нимиK= Наиболее используемыми являются схемы со= стержневидными линзамиI= т.еK= длинными склейками из= P–4= линзK= Основная проблемаI= решаемая в данной работеI= это расчет компонентов оборачивающей системыI= обладающих= высоким качеством изображенияI= не использующих многолинзовых склеекK= Также= компоненты оборачивающей системы должны быть унифицированыI= т.еK= должны позволять= изготовителю наращивать длину трубок путем простого добавления компонентовK=Требуемые= длины оптических наборовW=ONR–R=ммI=PPR–R=ммI=SOR–R=ммK= Используемые стекла должны быть=«белыми»I= т.еK=иметь коэффициент пропускания не= ниже= MIV= во всем видимом диапазоне спектра= EнапримерI= БКSI= КUI= СТКNVI= ФNI= БФORFK= Каталог используемых стекол был определен ПФ=«Линза»K= Согласно ТЗI=линейное поле объектива в пространстве изображений должно быть равно= = TT= = PR=ммK= Предварительные расчеты показалиI= что для достижения приемлемого уровня= освещенности значение задней числовой апертуры объектива должно быть не менее=MINK=При= этом внутренний диаметр трубок оправы составляет= OIU=ммI= соответственноI= световой= диаметр линз оборачивающей системы не должен превышать= OIT=ммK= Такое сочетание= требований ТЗ делает задачу расчета нетривиальнойK= = Практическая часть. Таким образомI= необходимо рассчитать объектив и два= компонента оборачивающей системы с линейным увеличением= HN и= –NK= Исходя из= требуемых длин оптических наборовI=длина обоих компонентов была выбрана равной=SP=ммK= Для унификации схемы было принято решение расположить компоненты следующим= образомW= объектив= –= отрицательный компонент= –= положительный компонент= –= окулярK= При= таком расположении наращивание длины трубки производится добавлением необходимого= количества положительных элементов перед окуляромK= Чтобы избежать сильного падения= разрешения при наращивании длины трубкиI=необходимо добиться дифракционного качества= обоих компонентов при условии телецентрического хода главных лучей в нихK= Был произведен габаритный расчет всей системыK= Далее был произведен расчет= конструктивных параметров объектива и положительного компонента с дальнейшей= оптимизациейK= = Результаты работы.

По итогам работы получен объектив с параметрамиI= соответствующими ТЗ и радиусами кривизны поверхностей из стандартного ряда ПФ= «Линза»K= Характеристики объективаW=f=D =Z =NI4 =ммI =OyD =Z =NIS =ммI =AD=Z= MINI= i= Z= NMIRT= ммK=Было= достигнуто разрешение пространственной частоты=OMM=мм-N с контрастом=MIPK= Также был рассчитан положительный компонент со следующими параметрамиW= =Z=–NI=AD=Z=MINI=OyD=Z=NIS=ммI=i=Z=SP=ммK=Разрешение пространственной частоты=OMM=мм-N с= контрастом=MIORK=Определительная яркость=Eчисло ШтреляF=для всех точек поля больше=MIUK= == = УДК=SUNKTUS= = ИССЛЕДОВАНИЕ СВОЙСТВ КОНТРОЛЬНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ УГЛА СКРУЧИВАНИЯ С УВЕЛИЧЕННОЙ ЧУВСТВИТЕЛЬНОСТЬЮ Т.В. Копылова Научный руководитель – д.т.н., профессор И.А. Коняхин = В работе проведено исследование свойств контрольных элементов в виде угловых= зеркал в автоколлимационных схемах измерения угла скручиванияK= В ходе исследований= установленоI= что увеличение чувствительности измерения угла скручивания обусловлено= изменением угла между вектором основного неизменного направления контрольного= элемента и ортом падающего пучка лучей на при повороте объекта на контролируемый уголK= = Введение. В настоящее время для решения задач по определению пространственного= углового положения объектов относительно некоторой базы используются трехкоординатные= автоколлиматорыI= измеряющие положение объекта относительно двух осейI= перпендикулярных оптической оси автоколлиматораI= а также относительно третьей оси= –= оптической оси объектива автоколлиматора=Eоси скручиванияFK= Применение трехкоординатных автоколлиматоров= xNI=O]= с увеличенной= чувствительностью измерения угла скручиванияI= получаемой переотражением пучка от= дополнительного плоского зеркалаI= не всегда оправдано с технической и экономической= точки зренияK= Вызвано это сложностью и дороговизной системы зеркально-призменных= элементов таких автоколлиматоровK= = TU= = Таким образомI= существует необходимость исследований в области анализа свойств= контрольных элементов= EКЭF= для измерения угла скручивания с увеличенной= чувствительностьюK= = Цель работы. Провести исследование свойств контрольных элементов= автоколлимационной системы с целью обеспечения измерений угла скручивания с= увеличенной чувствительностьюK= = Базовые положения исследования. Для проведения исследований предлагается= рассмотреть автоколлимационные схемы канала измерения угла скручиванияI= где в качестве= КЭ используются угловые зеркала= EУЗF= следующих конфигурации и пространственной= ориентацииW= NK= УЗI=у которого угол между отражающими гранями имеет заданное отступление= d от= VM°I=а ребро двугранного угла параллельно одной из координатных осей=lYI=luI=при= осевом ходе падающего пучкаX= OK= прямоугольное УЗ с ребром параллельным одной из осей= lYI =lu при падающем= пучкеI=орт которого составляет с осью скручивания угол= d X= PK= прямоугольное УЗI= у которого ребро двугранного угла повернуто на угол= d вокруг= перпендикулярной ему оси=lYI=при осевом ходе падающего пучкаK= Анализ точного выражения для ортов отраженного пучка в предложенных схемах= показалI=что только в схемах с прямоугольным УЗI=ребро которого параллельно одной из осей= lYI =luI= а орт падающего пучка составляет с осью скручивания угол= d I= обеспечивается= увеличение чувствительности к повороту на угол скручиванияK= Чувствительность в этих= автоколлимационных схемах измерения угла скручивания определяется коэффициентом= передачи между углом поворота отражателя и углом отклонения отраженного пучкаI= численно равным величине= OD при= D = d K= Одним из параметровI= определяющим выражение для орта отраженного пучка по= алгоритму автоколлимационных измеренийI=является матрица действия КЭ как отражающей= системы=xP]K=Вид матрицы действия и свойства КЭ определяется ориентацией его основного= неизменного направления=EОННF=xPI=4]K= В результате анализа взаимной ориентации ОНН рассматриваемых УЗ и падающего на= них пучка лучей выявленоI =что действие КЭ на падающий пучок зависит от угла между= ортом пучка и вектором ОННK= Увеличение чувствительности измерения угла скручивания= определяется изменением угла между ортом падающего на КЭ пучка и вектором ОНН при= повороте исследуемого объекта на угол скручиванияK= = Результаты. В ходе работы проведены исследования свойств контрольных элементов= для измерения угла скручивания с увеличенной чувствительностьюK= Установлено условие= увеличения чувствительности измерения угла скручивания оптическими средствамиI= обусловленное изменением взаимной угловой ориентации основного неизменного= направления контрольного элемента и падающего на него пучка лучей при повороте объекта= на контролируемый уголK= Исследования выполнены в рамках федеральной целевой программы= «Научные и= научно-педагогические кадры инновационной России»=на=OMMV–OMNP=годыK= = Литература NK= Коняхин И.АKI= Копылова Т.ВK= Трехкоординатный оптико-электронный автоколлиматор с= увеличенной чувствительностью измерения угла скручивания= LL= Научно-технический= вестник СПбГУ ИТМОK=–=СПбW=СПбГУ ИТМОI=OMNMK=–=№S=ETMFK=–=СK=V–NNK= OK= Коняхин И.АKI= Копылова Т.ВK= Оптико-электронная автоколлимационная система= инвариантного измерения угла скручивания= LL= Научно-технический вестник= = TV= = СПбГУ ИТМОK=–=OMNNK=–=№=R=ETRFK=–=СK=NN–NPK= PK= Джабиев А.НKI= Коняхин И.АKI= Панков Э.ДK= Автоколлимационные углоизмерительные= средства мониторинга деформацийK=–=СПбW=СПбГИТМО=EТУFI=OMMMK=–=NVT=сK= 4K= Лебедев И.ВK=О некоторых свойствах систем плоских зеркал=LL=Труды института физики и= математики АН БССРK=–=ВыпK=NK=–=МинскW=АН БССРI=NVRSK=–=СK=NOR–NRNK= = = УДК=SUNKTU= СРАВНЕНИЕ АЛГОРИТМОВ ПОЛУЧЕНИЯ ИНФОРМАЦИИ О ДВИЖЕНИИ ОБЪЕКТОВ С ПОМОЩЬЮ ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННОЙ СИСТЕМЫ Е.Н. Кулешова Научный руководитель – к.т.н., доцент А.А. Горбачев = В работе рассматриваются два алгоритма определения параметров движения объектов с= помощью оптико-электронной системыK= Наиболее подходящий из них адаптирован к= измерениям в оптико-электронной системе контроля движения поршня в цилиндре клапанаK== = Введение. Часто возникает необходимость проверки работоспособности подвижных= элементов оборудованияI= напримерI= поршня в клапанеI= золотника в вентилеI= поршней= цилиндров в двигателе внутреннего сгорания и т.дK= Обычно подвижные элементы= располагаются в труднодоступных местах и проконтролировать их работу контактным= способом во время движения не представляется возможнымK=Оптико-электронные приборы и= системы позволяют наблюдать в реальном времени за протекающими процессамиI= автоматизировать процесс снятия данныхI= реализовать оперативное и точное измерение= бесконтактным способом и повысить достоверность получаемых данныхK= При этом= измерительная система должна обладать малыми габаритными размерами и содержать= современные способы получения и обработки данных=xN]K= = Цель работы. Сравнить два алгоритма получения информации о движении объектов с= помощью оптико-электронной системы и адаптировать наиболее подходящий из них к= оптико-электронной системе контроля движения поршня в цилиндре клапанаK= = Базовые положения исследования. На кафедре Оптико-электронных приборов и= систем Санкт-Петербургского национального исследовательского университета= информационных технологийI= механики и оптики была разработана оптико-электронная= системаI= позволяющая получать информацию о параметрах движения объектов= xO]K= Под= параметрами движения понимается величина перемещенияI= скоростьI= ускорениеI= трассировкаI= т.еK= определение траектории перемещения объектаK= Определение параметров= движения поршня в цилиндре клапана осуществляется с помощью контрольной метки=EКМFI= выполненной в виде пассивного сферического отражателя и жестко закрепленной на поршне= xP]K= Принцип работы системы заключается в следующемK= КМ освещается источником= излучения=EИИFK=Изображение ИИ от КМ формируется на приемнике оптического излучения= видеоблока системыI= включающего в себя оптическую системуI= матричный анализатор= изображения и источники излученияK= Кадр с изображением источника передается в блок= обработкиK= Программа вычисляет смещениеI= скорость и ускорение поршняI= который= перемещается внутри клапанаI= и передает информацию на видеоконтрольное устройствоK= При этом было исследовано два алгоритма определения скорости и ускоренияK= Первый= алгоритм подразумевает определение координат объекта съемки в каждом кадре и= непрерывное их сравнениеK= Разность координат положения объекта в первом и во втором= = UM= = кадре определяют скорость перемещенияK= Таким же образом вычисляется скорость объекта= между вторым и третьим кадромK= А затем по разнице скоростей определяется ускорение= объектаK=Исходя из предположения об известном времени кадраI=можно определить скорость= перемещения объекта в пикселяхK= Эксперименты показалиI= что при высоком времени= экспозиции кадра и большой скорости перемещения все больше и больше будет проявляться= эффект смазаI= что пагубно скажется на точности определения координат объектаK= Второй= алгоритм обработки последовательности изображений подразумевает анализ перемещения= объекта за время одного кадраK= При движении объекта неизбежно возникает смазK= Т.

еK= изображение точки превращается в линиюK= Величина данной линии напрямую зависит от= скорости движения объекта во время смазаK= Таким образомI= скорость можно оценитьI= измерив величину смаза в одном кадреI= а ускорение= –= сравнивая скорости в кадрахK= Под= величиной смаза подразумевается прирост продольного размера объекта по сравнению с= неподвижным состояниемK= Анализ данного алгоритма показалI= что на погрешность= определения скорости напрямую влияет погрешность величины экспозиции кадраK= Стоит= заметитьI= что в современных камерах эта величина не превышает десятков наносекундK= Кроме тогоI=на точность определения смаза сильно влияет величина фоновой составляющей= из-за тогоI= что смаз отображает такое же количество энергииI= что и исходное изображениеI= поэтому разница между смазанным изображением и фоном уменьшаетсяK= = Результаты. В процессе работы над данной темой был разработан лабораторный стендI= с помощью которого экспериментально исследованы оба алгоритма определения скорости и= ускорения объектаK= С помощью специальных программI= написанных для проведения= экспериментов на данном стенде с использованием двух различных алгоритмов определения= параметров движения объектаI= были получены результаты измеренийI= по которым были= построены графики и сделаны соответствующие выводыK= В частностиI= эксперименты= показалиI=что метод определения скорости по двум кадрам является более предпочтительным= так как обладает меньшей погрешностью измеренийK= При таком методе определения= скорости объекта СКО составляет=MIMU=мм/сK=В системе для измерения параметров движения= поршня в цилиндре клапана применен наиболее оптимальный алгоритм для решения= поставленной задачиK= = Литература NK= Анисимов А.ГKI= Коротаев В.ВKI= Кулешова Е.НK= О возможности адаптации теории= распределенных измерительных систем к оптико-электронным системам= LL= ПриборостроениеI=OMNMK=–=№=TK=–=СK=USK= OK= Кулешова Е.НK= Оптико-электронная система контроля линейного перемещения поршня= клапана на основе анализа совокупности изображений= L= Сборник трудов конференции= молодых ученыхI= Выпуск= NK= Оптотехника и оптическое приборостроениеK=–=СПбW= СПбГУ ИТМОI=OMMVK=–=СK=PP4–PPTK= PK= Горбачев А.АKI=Кулешова Е.НK=Исследование влияния формы сферического отражателя на= точность измерения перемещений поршня в цилиндре клапана= LL= Научно-технический= вестник СПбГУ ИТМОI=OMNMK=–=S=ETMFK=–=СK=NO–NSK= = = = UN= = УДК=SUNKTU= О ВОЗМОЖНОСТИ ИСПОЛЬЗОВАНИЯ oGB-СВЕТОДИОДОВ В СИСТЕМАХ С ДВУХВОЛНОВОЙ ОПТИЧЕСКОЙ РАВНОСИГНАЛЬНОЙ ЗОНОЙ А.А. Мараев Научный руководитель – к.т.н., ст.н.с. А.Н. Тимофеев = Вступление. Системы с оптической равносигнальной зоной=EОРСЗF=предназначены для= контроля поперечного смещения контролируемого объектаK= Наибольшее влияние на результат определения положения приемного устройства в= таких системах вносит рефракция воздушного трактаK =В связи с этим был предложен= двухволновой дисперсионный метод для устранения влияния рефракции=xN]K= В качестве источников излучения для таких систем ранее предложено использовать= odB-светодиоды= xO]K= Они позволяют сочетать источники с разными длинами волн в одном= корпусеI=что позволяет значительно упростить оптическую схемуK= = Цель работы. Рассматривается возможность применения= odB= светодиодов для= создания приборов с двухволновой ОРСЗK= Для этого требуется определитьI= насколько= параметры данных светодиодов соответствуют требованиям построения системыK= Необходимо определить полуширину индикатрис излучения= ENLOm~xF= и отклонение= направления максимума излучения от оси светодиодаK= = Базовые положения исследования. Оптическая равносигнальная зона создается= благодаря томуI= что излучающий блок формирует в пространстве предметов несколько= пересекающихся полей оптического излученияI= созданныхI= напримерI= двумя= полупроводниковыми излучающими диодамиK=Входящая в состав приемного блока приемная= часть имеет одно оптическое угловое или линейное поле для анализа своего положения в= полях излученияK= Измерения индикатрисы проводятся при помощи спектрометра= «lce~n= lptics= rpB 4MMM»= и угловой подвижки в диапазоне от= M°= до= NUM°= в двух плоскостях= Eв плоскости= расположения контактов светодиода и перпендикулярной ей плоскостиFK= Проводятся= измерения светодиодов марок=AiRNPodBK= = Основной результат, практические результаты. Получены индикатрисы излучения= нескольких светодиодовI= измерен угол направленности максимума излученияI= полуширина= индикатрис излучения синего и красного каналовK=По измеренным параметрам можно судить= о характере распределения направленности излучения в данном типе светодиодовK= Полученные результаты могут быть использованы при разработке различных оптико электронных приборов с использованием указанного типа ПИДK= = Литература NK= Витол Э.АKI= Мусяков В.ЛKI= Коняхин И.АKI= Тимофеев А.НK= Реализация дисперсионного= метода в оптико-электронных системах с оптической равносигнальной зоной= LL= СбK= трудов=sf= МеждунарK= КонфK=«Прикладная оптика»I= OMM4K=–=СПбW= СПбГУ ИТМОI= OMM4K=– ТK=NK=–=СK=PT–4MK= OK= Мараев А.АK= Исследование энергетической чувствительности в оптико-электронных= системах с полихроматической оптической равносигнальной зоной= LL= ИзвK= вузовK= ПриборостроениеI=OMNOK=–=ТK=RRK=–=№=PK=–=СK=PN–PRK= = = = UO= = УДК=SUNKTU= ИССЛЕДОВАНИЕ СТРУКТУР ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННЫХ ДОКОВЫХ ПРОГИБОМЕРОВ Ю.А. Мудрак Научный руководитель – к.т.н., ст.н.с. А.Н. Тимофеев Краткое вступление, постановка проблемы. Эксплуатация плавучих доков= представляет собой ответственный процессI= в течение которого должен производиться= контроль параметров дока с целью снижения риска возникновения аварийных ситуацийK= Одним из таких параметров является величина прогибаI= характеризующая продольную= деформацию сооружения в целом=xN]K= В настоящее время на кафедре Оптико-электронных приборов и систем= EОЭПиСF = Санкт-Петербургского национального исследовательского университета информационных= технологийI= механики и оптики= EНИУ ИТМОF= разработан оптико-электронный доковый= прогибомер= EПОЭДFI= достоинством которого является регулярныйI= автоматизированный= характер проведения измерение текущего значения прогиба дока бесконтактным методомK= ОднакоI= его система достаточно сложная и может быть заменена на более простуюI= состоящую из одного приемного модуляK=До настоящего времени система ПОЭД включала в= себя два фотоприемных модуляK= = Цель работы. Исследовать структуры существующих оптико-электронных доковых= прогибомеров для разработки более совершенной схемы построения автоматического= оптико-электронного комплекса измерения прогиба судовK= = Базовые положения исследования. Объектом исследований являются комплексы для= дистанционного контроля прогиба плавающих доковK= Ранее были созданы системыI= реализующие методы створных измеренийX= анализирующие распределение энергии в= поперечном сечении пучков лучейX= основанные на оптической схеме с совмещенными= фокусамиX= с оптической равносигнальной зоной= ENVVR= гKF= и т.дK= Наиболее современной и= актуальной является система ПОЭДI=использующая фотоприемники на матричной основеK=В= НИУ ИТМО в=OMNN=гK=был разработан оптико-электронный прогибомерI=состоящий из двух= фотоприемных модулейI= развернутых друг относительно друга на угол= NUM°K= Такое= расположение фотоприемных модулей позволило образовать два измерительных каналаI= каждый из которых предназначен для регистрации смещения одной из активных реперных= метокxO]K=В данном случае на компьютер для последующей обработки поступает удвоенное= количество информацииI=что влияет на быстродействие системыK=Для обеспечения быстроты= работы прогибомера и упрощения его конструкции предлагается свести изображения двух= реперных меток на единое матричное полеK= = Основной результат. Предлагаемая схема оптико-электронного прогибомера с единым= матричным полемK= = Литература NK= Джабиев А.НKI=Мусяков В.ЛKI=Панков Э.ДKI=Тимофеев А.НK=Оптико-электронные приборы= с оптической равносигнальной зонойK= Монография= L= Под общей редакцией= Э.ДK=ПанковаK=–=СПбW=ИТМОI=NVVUK=–=OPU=сK= OK= Алеев А.МKI= Горбачев А.АKI= Коротаев В.ВKI= Пантюшин А.ВK= Экспериментальное= исследование случайной погрешности оптико-электронного докового прогибомера= LL= Научно-технический вестник СПбГУ ИТМОI=OMNNK=–=№=4=ET4FK=–=СK=T–NNK= = = UP= = УДК=MM4K4R= = РАЗРАБОТКА СТЕНДА ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ ПОЗИЦИОННО-ЧУВСТВИТЕЛЬНОГО ДАТЧИКА МУЛЬТИСКАН А.Г. Оболенсков Научный руководитель – д.т.н., профессор Р.

К. Мамедов = Одной из наиболее актуальных задач технического зрения является задача обеспечения= автоматизации процесса измеренийK= Исследование данного вопроса требует необходимости= комплексного подхода при изучении и последующей разработке электронных схем и узлов= приборов лабораторного назначенияK= В докладе в качестве примера рассмотрен процесс= автоматического снятия данных с позиционно-чувствительного фотоприемника Мультискан= отечественного производстваK= ИзвестноI= что позиционно-чувствительный фотоприемник МультисканI= освещаемый= источником светаI=работает на принципе отслеживания координаты светового пятна в режиме= реального времениK= Питаемый напряжением= –rI= на выходе прибор поддерживает= напряжениеI= пропорциональное координате регистрируемого светового пятнаK= Регистрация= текущего сигнала возможна в ручном режиме=–= при помощи цифрового вольтметраI=однако= такой подход в ряде случаев малоэффективенK= Как показывает практикаI= оптимизация= измерительного процесса может быть обеспечена посредством его автоматизацииI= что= предполагает введение в схему АЦП для преобразования аналогового в цифровой сигнал и= последующего подключения компьютераK= В докладе рассмотрена схема включения АЦП в цепь питания МультисканаI= выбор= коэффициента масштабаI=в зависимости от разрядности АЦП и требуемой чувствительностиI= пример снятия данных и их анализK= Для удобства работы с регистрируемыми даннымиI= нами была написана программа на= языке СHHI=позволяющая на основе графиков визуально отслеживать перемещение светового= пятна вдоль фоточувствительной площадки исследуемого фотоприемникаK= По результатам исследованийI= в дальнейшем планируется совершенствование данной= программы и использование полученного измерительного комплекса для оценки параметров= фотоприемника= –= его температурной и временной стабильностиI= линейности и других= параметровK= = = УДК=RPRKSI=SOUKVP= = МАКЕТИРОВАНИЕ МНОГОЭЛЕМЕНТНОГО ЦВЕТНОГО ИСТОЧНИКА ИЗЛУЧЕНИЯ, СОЗДАЮЩЕГО РАВНОМЕРНУЮ ЭНЕРГЕТИЧЕСКУЮ ЗАСВЕТКУ ЗОНЫ АНАЛИЗА В.С. Перетягин Научный руководитель – к.т.н., доцент А.Н. Чертов = В настоящее время разработки новых технологий производства полупроводниковых= светоизлучающих структур привели к использованию данной продукции в различных= системах отображения информацииI= для создания источников излучения специального= назначения для автоматических систем промышленного контроля или измеренияI=а также для= анализа цвета продукцииK= Возможность сочетания высокой мощности излучения с= практически любой формой его пространственного распределения и большим= многообразием цветовых оттенков в широком диапазоне яркостей являются несомненными= преимуществами светодиодных технологийK= Однако такие технологии требуют и более пристального внимания в том случаеI =если= = U4= = требуется обеспечить определенный характер распределения облученности или цветовой= картины на заданном расстоянии=Eв рабочей зонеI=зоне анализа или наблюденияFK= Целью работы является создание многоэлементного цветного источника излученияI= создающего равномерную энергетическую засветку зоны анализа с возможностью изменения= цвета засветки в широком диапазоне цветовK= На основании предварительного моделирования в системах= M~thc~d= и= M~ti~b= были= построены диаграммы пространственного распределения освещенности и цветовые картины= источника в зоне анализаK=Указанные теоретические модели являлись базовым инструментом= при разработке физического макета источникаI= обеспечивающего равномерную засветку= зоны анализаK= Особенностью предложенного конструкторского решения является тоI= что= многоэлементный цветной источник излучения образован множеством светодиодных= источников различных цветов для получения света смешанного цветаK= Вход светодиодных= источников соединен с выходом устройства управления светодиодными источниками светаK= При этом светодиодные источники света разделены по группам питания в каждом канале= цветностиI= а значение питающего тока для каждой группы отличается от значения= питающего тока группы с минимальным током питанияI= рассчитанным по ходу работы= коэффициентомK= Цветовые составляющие освещенности зоны анализаI= характеризующие= свет смешанного цветаI= создаваемый с помощью светодиодных источниковI= от данного= источника рассчитаны с использованием гостированных колориметрических соотношенийK= Результатом настоящей работы является макет указанного многоэлементного цветного= источникаI= а также схема его управленияK= В дальнейшем планируются проведение его= экспериментальных исследований для подтверждения предложенных теоретических= моделейK= = = УДК=SUNKTU= ОСОБЕННОСТИ ЭНЕРГЕТИЧЕСКОГО РАСЧЕТА ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННЫХ АВТОКОЛЛИМАТОРОВ С ОПТИЧЕСКОЙ РАВНОСИГНАЛЬНОЙ ЗОНОЙ Л.Г. Самигуллина Научный руководитель – к.т.н., ст.н.с. А.Н. Тимофеев = Краткое вступление, постановка проблемы. Полноценное функционирование= технологического оборудования возможно только при выполнении строгих условий и= точного монтажа=xN]K=Для выполнения этих условий необходим пространственный контрольI= который часто реализуется с помощью оптико-электронных измерительных систем=EОЭИСFI= в том числе и с оптической равносигнальной зоной=EОРСЗFK=Коллимационные ОЭИС с ОРСЗI= предназначенные для контроля смещений контролируемого объектаI= хорошо изучены= xO]I= тогда как исследования автоколлимационных схем построения указанных устройств не= достаточныK= = Цель работы. Изучение особенностей проведения энергетического расчета= автоколлиматоров с ОРСЗK= = Базовые положения исследования. Обобщенную оптическую схему автоколлиматора= с оптической равносигнальной зоной можно представить в виде прожектораI= в котором с= помощью излучателей на разделительной призме создается оптическая равносигнальная= плоскостьI= которая затем с помощью зеркала и объектива направляется на контрольный= элемент= EотражательFI= и приемной частиI= объектив которой собирает на фотоприемнике= излучение пришедшее от отражателяK= = UR= = Специфика энергетического расчета состоит в наличии функциональной зависимости= между диаметрами объектива прожектора и объектива приемникаI= что позволяет пытаться= оптимизировать параметры проектируемого автоколлиматора по какому-либо критерию=xP]K= Оптическая система ОЭИС с ОРСЗ не строит изображенияI= поэтому определяющим= фактором для энергетического расчета является поток излученияI= приходящий на вход= приемного блокаK= Таким образомI= основным соотношением для расчета будет условие= превышения входным потоком порогового потока чувствительности прибораK= Решение системы из двух уравнений энергетического расчета позволяет найти искомые= диаметры объективов прожектора=aN= и приемника=aOK=ТакI=для автоколлимационной системы= с фотодиодом ФД= TКI= светодиодом АЛNMTБ получены две пары размеров зрачков ОЭИС с= ОРСЗ=aNZOMIT=ммI=aOZPU=мм и=aNZPNINS=ммI=aOZPTISS=ммK= = Заключение. Проведенный энергетический расчет показалI= что диаметры входных и= выходных зрачков объективов задатчика базового направления и приемной части составят= соответственно= aNZOMIT=ммI= aOZPU=мм и= aNZPNINS=ммI= aOZPTISS=ммK= Таким образомI= проведенные расчеты показываютI=что схема является реализуемойK= В дальнейших исследованиях предполагается изучить влияние важнейших задаваемых= параметров оптической системы на величины= aN и= aOI= что позволило бы рационально= выбирать параметры проектируемых системK= = Литература NK= Оптические измерения= L= А.НK= АндреевI= Е.БK= ГавриловI= Г.ГK= Ишанин и дрK= Учебное= пособиеK=–=МKW=Университетская книгаX=ЛогосI=OMMUK=–=4NS=сK= OK= Джабиев А.НKI=Мусяков В.ЛKI=Панков Э.ДKI=Тимофеев А.НK=Оптико-электронные приборы= и системы с оптической равносигнальной зонойK= Монография= L= Под общей редакцией= Э.ДK=ПанковаK=–=СПбW=ИТМОI=NVVUK=–=OPU=сK= PK= Прокофьев А.ВK= Особенности энергетического расчета автоколлимационных оптико электронных систем контроля соосности с оптической равносигнальной зоной=LL=Оптика OMMRK= Труды четвертой международной конференции молодых ученых и специалистов= «Оптика-OMMR»= L= Под редK= профK= В.ГK= БеспаловаI= профK= С.АK= КозловаK=–=СПбW= СПбГУ ИТМОI=OMMRK=–=PVU=сK= = = УДК=SUNKT= = ИССЛЕДОВАНИЕ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ ОБЛУЧЕННОСТИ ВИНЬЕТИРОВАННОГО ИЗОБРАЖЕНИЯ С ПОМОЩЬЮ КОМПЬЮТЕРНОГО МОДЕЛИРОВАНИЯ А.А. Смехов Научный руководитель – д.т.н., профессор И.А. Коняхин В работе построена и рассмотрена модель автоколлимационной системыI=включающей= источник излученияI= контрольный элементы и срезающие апертурыK= В модель внесена= предельная вариативность составляющих системыI= включающая введение неограниченного= числа срезающих апертурI= любой геометрической формыI= источника излучениеI= форма= которого и распределение освещенности также может быть задано любым способомK=Данная= модель применяется для первичной обработки и исследования эффектов виньетирования в= автоколлимационных системахK= = Введение. В процессе монтажаI=работыI=наблюдения за крупногабаритными объектами= часто требуется контроль их прогибов и деформацийK При использовании автоколлимационных углоизмерительных систем значительное= = US= = влияние на точностные характеристики и диапазон измерений оказывает так называемая= погрешность вследствие виньетирования оптического пучкаK= Влияние виньетирования= проявляется во всем диапазоне измерений= Eкроме нулевого положенияFI= носит регулярный= характер иI= следовательноI= может быть описано теоретически и затем скомпенсировано на= этапе измерений= xN]K= Методы устранения влияния виньетирования не ограничиваются= теоретической компенсацией систематической составляющей погрешности и коррекцией уже= полученных результатов измерения и могут быть дополнены специальной коррекцией= алгоритма измеренияK= Такое сочетание теоретической и алгоритмической компенсации= является наиболее приемлемым способом увеличения точности измерения по критериям= стоимостиI=надежностиI=простоте и эффективностиK= Изучение влияния виньетирования на систематическую составляющую погрешностиI= выяснение наиболее оптимальных методов компенсации погрешности виньетирования для= обеспечения быстроты и интерактивности процесса измеренияI= техническая реализация= подобных методов является актуальной задачейK= Для построения теоретической базы компенсационных алгоритмов и наработки массива= данных о корректировке значенийI= снимаемых с чувствительного элемента приемной части= автоколлиматораI=и требуется адекватная варьируемая компьютерная модельK= = Цель работы. Построить компьютерную модель автоколлимационной системы со= свободно изменяемыми параметрамиK= Оценить ее быстродействие и пригодность к= исследованию распределения освещенности в виньетированном пучкеK= СобственноI= рассмотреть распределение освещенности при разных параметрах заданной системыK= = Основные положения. Построение модели производилось в среде= M~ti~bI= Продемонстрировавшей существенно большую скорость обработки данных и обсчета= результатов по сравнению с пакетом=M~thC~d=xP]I=в особенности проявившуюся при работе с= многомерными массивами данныхK= Поскольку в автоколлимационной схеме источник излучения находится в фокальной= плоскости излучающего объективаI=в пространстве изображений этого объектива образуется= сноп коллимированных пучковI= каждый из которых порождается светящейся точкой= источника излучения и имеет диаметр и форму соответствующую форме выходного зрачка= объективаK= В свою очередьI= распределение пучков по угламI= т.еK= направлениям переделяется= распределением освещенности источника излученияI=и фокальным отрезком объективаK== На данном этапе можно ввести двухуровневую абстрактную модель поляW= поле= описывается энергетической характеристикой в каждой своей точкеI= которой помимо этого= присущи координаты= ExI=yF= и направление= ExI =yFK =Помимо этогоI =каждая точка имеет две= внутренние степени свободыI= раскрывающиеся в подпространство каждого= коллимированного пучка около точки с координатами=ExI=yFK= Элементы автоколлимационной схемы были описаны модульно как операторы= изменяющие полеW=оператор свободного пространстваI=зеркалаI=оператор апертуры и наконецI= оператор объективаI= сворачивающий внутренне двумерное пространство каждого снова в= точку=–=т.еK=фокусирующийK= Описанная модель помогла выявить закономерности и подтвердить аналитические= предположения относительно распределения освещенности как при изменении угла поворота= контрольного элементаI=так и при изменении дистанции до негоK= = Заключение. В ходе проведенной работы была построена модель автоколлимационной= схемы с геометрической трассировкой лучейI=излучаемых излучающей маркой произвольной= формыI=с изменением лучей элементами системыK= При рассмотрении типичной схемы с круглой равномерно светящей маркой и= оптическими элементами с круглой апертурой были рассмотрены зависимости= распределения освещенностиI= и сделаны соответствующие выводы о последующем= = UT= = характере построения компенсационных алгоритмов погрешности виньетированияK== Исследования выполняются в рамках аналитической ведомственной целевой= программы= «Развитие научного потенциала высшей школы= EOMMV–OMNM= годыF»= и= Федеральной целевой программы=«Научные и научно-педагогические кадры инновационной= России»=на=OMMV–OMNP=годыK= = Литература= NK= Коняхин И.АKI= Панков Э.ДK= Трехкоординатные оптические и оптико-электронные= угломерыW=СправочникK=–=МKW=НедраI=NVVNK= OK= Проектирование оптико-электронных приборовW=УчебникK=ИздK=O-еI=перерабK=и допK=LЮ.БK= ПарвулюсовI= С.АK= РодионовI= В.ПK= Солдатов и дрKX= Под редK= Ю.ГK= ЯкушенковаK=– МKW=ЛогосI=OMMMK=–=4UUсKW=илK= PK= Амосова О.АKI Вестфальский А.ЕK= Применение пакета= MATeCAa= к решению= вычислительных задачK=–=МKW=Издательский дом МЭИI=OMMTK=–=PM=сK= = = УДК=RPRKPI=RPRKS= = МАКЕТ МНОГОЭЛЕМЕНТНОГО ИСТОЧНИКА ИЗЛУЧЕНИЯ УФ ДИАПАЗОНА А.Д. Вакуленко Научный руководитель – к.т.н., доцент А.Н. Чертов = На сегодняшний день ультрафиолетовое излучение широко применяется в минералогии= для возбуждения люминесценции минераловK= Люминесцировать могут самые разные= минералыI= и цвет люминесценции может являться одним из селективных признаков их= разделения при обогащении или качественной оценкеK= Таким образомI= актуальной задачей= становится создание источника УФ-излучения для обеспечения процесса исследования= люминесценции минералов на различных участках УФ диапазона длин волнK= Целью работы является создание многокомпонентных источников ультрафиолетового= излучения с различным расположением элементов для возбуждения люминесценции= минералов и ее последующего анализа в автоматическом режиме посредством оптико электронных системK= Проведенные теоретические исследования существующих источников УФ-излучения= показалиI =что актуальным является использование излучающих диодов и модулей на их= основеK= На основании данных о характеристиках люминесценции различных минеральных= структур были определены энергетические и спектральные параметры излучателейI= пригодных для решения поставленной задачиI=и разработаны математические модели одно-=и= многоэлементных источников на их основеI=которые послужили необходимой теоретической= базой для создания соответствующих физических макетовK= При создании одноэлементного= источника использовались излучающие диоды типа= Bi-PN4sCK= При макетировании= многокомпонентного источникаI= излучающего на различных участках УФ диапазонаI= использовались излучающие диоды типа=Bi-PN4sCI=rsTlm=PRRI=rsTlm=PORI=rsTlm=OUMK= Проведенные предварительные экспериментальные исследования по возбуждению= люминесценции образцов янтаряI= рубинаI= галенита= Eсвинцового блескаFI= хризоберилла= зеленого и мусковита при помощи собранного макета УФ-источника показали высокую= степень совпадения с теоретическими данными о цвете их люминесценцииK= Приоритетным направлением дальнейших исследований является разработка схемы= управления многоэлементным источником для реализации исследований избирательной= люминесценции минералов в УФ диапазоне длин волн с целью определения оптимальных= признаков их разделенияK= Указанная схема построения и управления источником хотя и= является более сложной по конструктивному исполнениюI= позволитI= с одной стороныI= вызвать люминесценцию у большего количества минераловI= а с другой стороныI= разделить= их в случае совпадения цвета люминесценции на классыK= = UU= = = = УДК=SUNKPKMS= = НОВЫЕ КОЛОРИМЕТРИЧЕСКИЕ СИСТЕМЫ ДЛЯ МАТРИЦ ЦИФРОВЫХ ФОТОКАМЕР В.Л. Жбанова (Национальный исследовательский университет=«МЭИ»=в гK=СмоленскеF= Научный руководитель – к.т.н., доцент Г.В. Мартыненко (Национальный исследовательский университет=«МЭИ»=в гK=СмоленскеF= Существуют различные способы расположения и подбора светофильтров мозаичной= системы цветоделения в цифровых фотокамерахI= которые используют в основном одну= колориметрическую систему=odB=EрисK=NFK= = = а= б= Рис.=1.=Колориметрическая система=oGB:=цветовой треугольник=Eа)X=кривые сложения=Eб)= Каждая система цветоделения уникальна по своемуI=но не устраняет таких недостатков= какW=низкая спектральная чувствительность в коротковолновой части спектраI=что приводит к= существенным цветовым искажениям и необходимости тщательной настройки баланса= белогоX=ограниченное тело цветового охвата системыX=сложность расчета цветовых профилей= fCCK= Предлагаемый путь решения данных проблем= –= модернизация мозаичной системы= цветоделения с применением международной колориметрической системы= uYZI= которая= позволяет строго идентифицировать цвет посредством его координатK= Для улучшения качества цветопередачи были разработаны две новые= колориметрические системыW=MNkNmN и=MOkOmO=EрисK=OFK= = = а= б= Рис.=O.=Новые колориметрические системы:=система=M1N1P1=Eа)X=система=MONOPO=Eб)= Система= MNkNmN вписана в цветовую диаграмму= uYZ= EрисK=OI=аFI= имеет максимально= = UV= = возможное тело цветового охвата среди системI =использующих в качестве основных цветов= только реальные= –= кривые сложения имеют меньшие отрицательные ветви= EрисK=PI=бFI= в= сравнении с=odB=EрисK=NI=бFK=Система=MOkOmO описывает цветовую диаграмму=uYZ=EрисK=OI=бFI= имеет минимальное количество нереальных цветов среди системI= тело цветового охвата= которых включает все реальные цвета= –= кривые сложения не имеют отрицательных ветвей= (рисK=PI=бFI=в отличие от=odBX=схожи с кривыми=uYZK=, о.е.



Pages:     | 1 |   ...   | 2 | 3 || 5 | 6 |   ...   | 16 |
 





 
© 2013 www.libed.ru - «Бесплатная библиотека научно-практических конференций»

Материалы этого сайта размещены для ознакомления, все права принадлежат их авторам.
Если Вы не согласны с тем, что Ваш материал размещён на этом сайте, пожалуйста, напишите нам, мы в течении 1-2 рабочих дней удалим его.