авторефераты диссертаций БЕСПЛАТНАЯ БИБЛИОТЕКА РОССИИ

КОНФЕРЕНЦИИ, КНИГИ, ПОСОБИЯ, НАУЧНЫЕ ИЗДАНИЯ

<< ГЛАВНАЯ
АГРОИНЖЕНЕРИЯ
АСТРОНОМИЯ
БЕЗОПАСНОСТЬ
БИОЛОГИЯ
ЗЕМЛЯ
ИНФОРМАТИКА
ИСКУССТВОВЕДЕНИЕ
ИСТОРИЯ
КУЛЬТУРОЛОГИЯ
МАШИНОСТРОЕНИЕ
МЕДИЦИНА
МЕТАЛЛУРГИЯ
МЕХАНИКА
ПЕДАГОГИКА
ПОЛИТИКА
ПРИБОРОСТРОЕНИЕ
ПРОДОВОЛЬСТВИЕ
ПСИХОЛОГИЯ
РАДИОТЕХНИКА
СЕЛЬСКОЕ ХОЗЯЙСТВО
СОЦИОЛОГИЯ
СТРОИТЕЛЬСТВО
ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
ТРАНСПОРТ
ФАРМАЦЕВТИКА
ФИЗИКА
ФИЗИОЛОГИЯ
ФИЛОЛОГИЯ
ФИЛОСОФИЯ
ХИМИЯ
ЭКОНОМИКА
ЭЛЕКТРОТЕХНИКА
ЭНЕРГЕТИКА
ЮРИСПРУДЕНЦИЯ
ЯЗЫКОЗНАНИЕ
РАЗНОЕ
КОНТАКТЫ


Pages:     | 1 |   ...   | 2 | 3 ||

«Введение 1 КОМПЛЕКТ учебно-методических комплексов дисциплин по тематическому направлению деятельности национальной ...»

-- [ Страница 4 ] --

73. Miyazaki H., Ohtaka K. // Phys. Rev. B. – 1998. – V. 58. – № 11.

– P. 69206937.

74. Mott N. F. // Adv. Phys. – 1967. – V. 16. – № 61. – P. 49144.

75. Mott N. F. // Philos. Mag. – 1968. – V. 17. – № 150. – P. 12591268.

76. Nanocrystalline materials: a way to solids with tunable electronic structure and properties / H. Gleiter, J. Weissmuller et al. // Acta Materialia. – 2001. – V. 48. – P. 737–745.

77. Nanomaterials. Synthesis, Properties and Applications / Eds. A. S.

Edelstein, R. C. Cammarata. Bristol: Institute of Phesics Publishing, 1998. – 596 p.

78. Newnham R. Size effects and nonlinear phenomena in ferroic ceramics // Third Euro-Ceramics / Eds. P. Duran, J. Fernandes. – Faenza: Editrice Iberica, 1993. – V. 2. – P. 1–9.

79. Paesler M. A., Moyer P.J. Near-Field Optics: Theory, Instrumenta tion and Applications. Wiley, 1996.

80. Palumbo G., Erb U. Aust K. Triple line disclination effect on the mechanical behavior of materials // Scripta Metallurgica et Materialia. – 1990. – V. 24. – P. 1347–1350.

152 Оптическая микроскопия 81. Pohl D. W., Denk W., Lanz M. // Appl. Phys. Lett. – 1984. – V. 44.

– P. 651–664.

82. Rai-Choudhury Handbook of Microlithography, P.

Micromachining and Microfabrication. – Bellingham: SPIE, 1997.

83. Romanov S. G., Maka T. et al. // Syntetic Metals. – 2001. – V. 116.

– P. 475479.

84. Sakurai T. Advances in scanning probe microscopy. – Springer Verlag, 2000.

85. The Millipede–Nanotechnology Entering Data Storage // P. Vitter and others. – 2005. – 22 p. (http://domino.research.ibm.com/comm /pr.nsf/pages/rscd.millipedepicg.html/$FILE/pv7201preprint.pdf).

86. Whitesides G., Grzybowski B. Self-assembly at all scales // Science. – 2002. – 295. – P.2418–2421.

87. Yablonovitch E. // Phys. Rev. Lett. – 1987. – V.58. – №20. – P.20592062.

88. Yoshino K., Tatsuhara S. et al. // Appl. Phys. Lett. – 1999. – V. 74.

– № 18. – P. 25902592.

Приложение ПРИЛОЖЕНИЕ №1. РАБОЧАЯ ТЕТРАДЬ Московский государственный технический университет им. Н. Э. Баумана Кафедра ИУ-4 «Проектирование и технология производства ЭА»

Учебно-методическое обеспечение для подготовки магистров по программам высшего профессионального образования для тематического направления ННС «Наноинженерия»

Журнал практических работ по курсу «Оптическая микроскопия»

Для студентов приборостроительных специальностей 20 / учебный год Студент Группа (фамилия, и. о.) Преподаватель_ Допуск к экзамену (зачету) _ (фамилия, и. о.) (число) Подпись_ (фамилия, и. о.) (число) Москва, _ 154 Оптическая микроскопия Программа по курсу «ОПТИЧЕСКАЯ МИКРОСКОПИЯ»

Кафедра ИУ-4 «Проектирование и технология производства электронной аппаратуры»

Объем занятий, зач. ед.

Виды занятий 9-й семестр Всего 17 недель Лекции 1 Семинары – – Лабораторные работы 1 Самостоятельная работа 0,5 0, Итого: 2,5 2, Проверка знаний: Зачет Объем, ч / выполнение, неделя выдачи-сдачи Виды самостоятельной работы и 9-й семестр контрольных мероприятий Всего, ч 17 недель Домашнее задание № – – № Рубежный контроль:

№ – – № № Контрольная работа:

№1 – – № Курсовой проект – – Курсовая работа – – Программа составлена на основании Государственного образо вательного стандарта высшего профессионального образования.

Содержит государственные требования к минимуму содержания и уровня подготовки магистра по направлению подготовки «На нотехнология» с профилем подготовки «Наноинженерия».

Общие положения Методическое обеспечение практикума по курсу «Оптическая микроскопия» является частью УМК, разработано в соответствии с требованиями федеральных законов от 10.07.1992 г. №3266-1-ФЗ «Об образовании» (с изменениями и дополнениями) и от Приложение 22.08.1996 г. №125-ФЗ «О высшем и послевузовском профессио нальном образовании» (с изменениями и дополнениями), Типового положения об образовательном учреждении высшего профессио нального образования (высшем учебном заведении), утверждённо го постановлением Правительства РФ от 14 февраля 2008 г. №71, и одобрено научно-координационным советом по наноинженерии МГТУ им. Н.Э. Баумана.

156 Оптическая микроскопия П.1.1. ОТЧЕТ ПО ЛАБОРАТОРНОЙ РАБОТЕ №1.

ЭЛЛИПСОМЕТРИЯ Дата Оценка (max 5) Бонус за сложность Подпись Цели работы Изучение основ растровой эллипсометрии.

Изучение конструкции и принципов с эллипсометром «Эльф».

Изучение основ работы с программным обеспечением эл липсометра «Эльф».

Получение навыков измерения толщин оптически прозрач ных и полупрозрачных слоев.

Получить навыки исследования оптических постоянных об разцов.

Решаемые задачи Изучение устройства эллипсометра «Эльф». Изучить тех нические характеристики и принцип работы эллипсометра «Эльф».

Освоение основ работы с программным обеспечением эл липсометра.

Освоение настройки эллипсометра. Проведение калибровки.

Проведение спектрального исследования образцов.

Проведение обработки результатов исследований.

Построение эллипсометрических моделей.

Анализирование результатов работы, заполнение отчета и пред ставление его к защите.

Методические указания Прежде чем приступить к работе на эллипсометре «Эльф» сле дует изучить руководство пользователя прибора.

Техника безопасности Прибор управляется напряжением 220 В. Эксплуатацию эллип сометра «Эльф» производить в соответствии с ПТЭ и ПТБ элек троустановок потребителей напряжением до 220 В.

Приложение 1. Краткий конспект теоретической части Принцип работы эллипсометра. Физические основы принци па работы.

_ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ Технические характеристики эллипсометра. Возможности эл липсометра.

_ _ _ _ _ _ _ _ _ Основные этапы калибровки эллипсометра.

_ _ _ _ 158 Оптическая микроскопия _ _ _ _ _ _ 2. Подготовка к проведению лабораторной работы Выбор образцов для исследования: 2–3 образца по выбору преподавателя.

Подготовка образцов к исследованию.

Подготовка эллипсометра к работе.

3. Проведение лабораторной работы Изучить устройство эллипсометра «Эльф». Выбрать один из предназначенных для проведения работы образцов: один из образцов по выбору преподавателя.

Изучить технические характеристики и принцип работы эл липсометра «Эльф».

Освоить основы работы с программным обеспечением эллип сометра.

Проверить настройку эллипсометра. Провести калибровку.

Провести спектральное исследование выбранного образца.

Провести обработку результатов исследований и построить эллипсометрическую модель.

Вклеить эллипсометрическую модель Приложение 4. Результаты анализа спектров 5. Выводы 160 Оптическая микроскопия 6. Контрольные вопросы 1. Физические основы эллипсометрии.

2. Назначение эллипсометра.

3. Технические характеристики и устройство эллипсометра.

4. Принцип работы эллипсометра.

5. Каким образом производится определение толщины полупро зрачной или прозрачной структуры?

6. Виды исследований на эллипсометре.

7. Принцип расчета параметров по всему спектру.

8. Упрощенная формула Зельмейера. Вывод формулы.

Приложение П.1.2. ОТЧЕТ ПО ЛАБОРАТОРНОЙ РАБОТЕ №2. СПЕКТРОСКОПИЯ Дата Оценка (max 5) Бонус за сложность Подпись Цели работы Изучить принципы работы спектрометра OceanOptics HR-4000.

Изучить основные принципы работы со спектрометром.

Изучить основные приемы работы с программным обеспе чением спектрометра.

Изучить основные методы сканирования.

Снять спектры выданных образцов. Для одного из образцов произвести набор по 10 спектров пропускания и отражения.

Решаемые задачи Изучение принципов работы спектрометра.

Получение спектральных характеристик тонких пленок.

Анализирование спектральных характеристик.

Нахождение оптических постоянных исходя из спектраль ных характеристик.

Анализ результатов работы, формулировка кратких выводов по работе, оформление отчёта и представление его к защите.

Методические указания Прежде чем приступить к работе со спектрометром высокого разрешения HR-4000, следует изучить руководство пользователя прибора.

Техника безопасности Прибор управляется напряжением 220 В. Эксплуатацию спек трометра производить в соответствии с ПТЭ и ПТБ электроуста новок потребителей напряжением до 220 В.

1. Краткий конспект теоретической части Из каких элементов состоит спектрометр?

_ _ 162 Оптическая микроскопия _ _ _ _ _ _ Физические процессы, происходящие на детекторе Toshiba, при попадании на него светового луча.

_ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ Приложение _ _ _ _ Физический смысл входной щели. Возможные значения апертур.

_ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ 2. Подготовка к проведению лабораторной работы Запуск спектрометра и некалиброванного источника света.

Подготовка стойки к снятию спектральных характеристик.

3. Проведение лабораторной работы Изучение теоретической части и подготовка краткого кон спекта.

Изучение на практике различных режимов исследования спектров.

Изучение на практике влияния ускоряющего напряжения на качество получаемых изображений.

Получение первичного изображения под присмотром препо давателя.

Фокусировка и настройка микроскопа для проведения ос новных исследований.

Сохранение результатов работы. Обработка полученных ре зультатов исследований.

Анализ результатов работы, оформление и защита отчета.

164 Оптическая микроскопия Вклеить таблицу со спектральной характеристикой для одного из образцов Пропускания Отражения 4. Анализ экспериментальных данных Приложение 5. Выводы 6. Контрольные вопросы 1. Состав спектрометра.

2. Основы оптической физики (отражение и преломление света).

3. Назначение коллимирующего и фокусирующего зеркал.

4. Назначение длинноволнового поглощающего фильтра.

5. Основные отличия измерений величин отражения и пропус кания.

6. Возможные помехи и их влияние на результаты измерений.

166 Оптическая микроскопия П.1.3. ОТЧЕТ ПО ЛАБОРАТОРНОЙ РАБОТЕ №3.

АНАЛИЗ РЕЗУЛЬТАТОВ ИЗМЕРЕНИЙ Дата Оценка (max 5) Бонус за сложность Подпись Цели работы Изучение методов анализа полученных результатов.

Изучение методик расчета погрешностей при различных ви дах измерений.

Расчет погрешностей проведенных измерений.

Получение навыков обработки и представления погрешно стей экспериментальных результатов. Получение навыков анализа погрешностей.

Решаемые задачи Изучение на практике применения методик расчета погреш ностей измерений.

Изучение базовых методик расчета погрешностей.

Обработка экспериментальных данных каждым студентом индивидуально.

Проведение расчетов погрешностей полученных результатов.

Анализ результатов работы, формулировка кратких выводов по работе, оформление отчета и представление его к защите.

Методические указания Прежде чем приступить к расчету погрешностей, следует по вторить основные тезисы курса «Метрология».

1. Краткий конспект теоретической части Каким образом можно установить связь погрешностей двух взаимозависимых величин? Какие законы распределения могут быть применены в этом случае?

Приложение Какие погрешности могут считаться недопустимыми?

В чем состоит смысл расчета погрешностей? Какие выводы и рекомендации можно сделать после расчета погрешностей?

_ 2. Подготовка к проведению лабораторной работы Наличие нескольких листов формата А4, вычислительных приборов.

168 Оптическая микроскопия Предварительное ознакомление с методиками расчета.

Наличие собранных спектров на ЭВМ или в распечатанном виде после проведенных исследований спектров образцов.

3. Проведение лабораторной работы Провести анализ полученных результатов.

По представленным методикам рассчитать погрешности из мерений.

Сделать вывод о погрешностях и факторах, влияющих на погрешности.

Заполнить теоретическую часть и представить отчет к защите.

Основные методики расчета, формулы расчета и результаты расчета 4. Анализ экспериментальных данных Приложение 5. Выводы 6. Контрольные вопросы 1. Измерения. Наблюдения. Независимые наблюдения.

2. Мера рассеяния. Математическое ожидание. Моменты первого и второго рода.

3. Правила обработки многократных наблюдений.

4. Порядок обработки результатов наблюдений.

5. Коэффициент Стьюдента. Вычисление коэффициента Стью дента.

6. Оценка достоверности результатов испытаний.

7. Оценка результатов измерительного контроля.

8. Ошибки первого и второго рода.

9. Формирование ошибок контроля.

170 Оптическая микроскопия П.1.4. ОТЧЕТ ПО ЛАБОРАТОРНОЙ РАБОТЕ №4.

ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНОЕ ИССЛЕДОВАНИЕ СВЕТОВОГО ПОЛЯ ИСТОЧНИКА ВИДИМОГО ИЗЛУЧЕНИЯ Дата Оценка (max 5) Бонус за сложность Подпись Цели работы Исследование светового поля.

Изучение конструкции фотометра.

Изучение методик исследования светового поля.

Решаемые задачи Изучение на практике общей конструкции фотометра.

Изучение базовых принципов работы фотометром.

Получение навыков работы с фотометром.

Проведение обработки полученных результатов.

Анализ результатов работы, формулировка кратких выводов по работе, оформление отчета и представление его к защите.

1. Краткий конспект теоретической части Основные компоненты фотометра.

Приложение Принцип работы фотометра.

Индикатрисса.

2. Подготовка к проведению лабораторной работы Установка исследуемой лампы на нуль гониометра.

Подготовка фотометра к работе.

172 Оптическая микроскопия 3. Проведение лабораторной работы Измерение освещенности.

Вычисление значений и занесение в таблицу.

Построение индикатриссы.

Анализ результатов работы, оформление и защита отчета.

rr № Расстояние Расстояние до ламп после I, r1r п/п от фотометра до ламп поворота фотометра на 180° r1 r r r 4. Анализ экспериментальных данных Приложение 5. Выводы 6. Контрольные вопросы 1. Как связан световой поток и мощность источника света?

2. Дайте определение освещенности.

3. Дайте определение силы света.

4. Дайте определение яркости.

5. В чем заключается принцип фотометрии?

6. Нарисуйте устройство простейшей фотометрической головки.

7. Для чего нужны контрастные пластины в фотометре (рис. 2.5)?

8. Почему необходимы две системы световых единиц: освещен ность – Вт/м2 и люкс? Световой поток – Вт и люмен? Сила света – Вт/стерад и кандела?

9. Нарисуйте кривую чувствительности глаза к длинам волн.

10. Чему равен механический эквивалент света и для чего он нужен?

174 Оптическая микроскопия П.1.5. ОТЧЕТ ПО ЛАБОРАТОРНОЙ РАБОТЕ №5.

ДИСПЕРСИЯ. НАБЛЮДЕНИЕ СПЕКТРОВ Дата Оценка (max 5) Бонус за сложность Подпись Цели работы 1. Изучение методов анализа полученных результатов.

2. Изучение методик расчета погрешностей при различных ви дах измерений.

3. Расчет погрешностей проведенных измерений.

4. Получение навыков обработки и представления погрешностей экспериментальных результатов. Получение навыков анализа погрешностей.

Решаемые задачи 1. Подготовить монохроматор к работе.

2. Провести градуировку монохроматора.

3. Провести наблюдение спектров излучения и поглощения.

4. Провести измерение длины волны излучения лазера.

5. Провести исследование неизвестного спектра.

6. Анализ результатов работы, формулировка кратких выводов по работе, оформление отчёта и представление его к защите.

Методические указания Прежде чем приступить к расчету погрешностей, следует изу чить руководство по эксплуатации монохроматора.

Техника безопасности В приборе используется ртутная лампа. УФ-излучение опасно для зрения. Не направлять в глаза ртутную лампу.

1. Краткий конспект теоретической части Принцип работы монохроматора.

Приложение Методика измерения длины волны при помощи монохроматора.

Градуирование монохроматора. Погрешности при градуиро вании.

2. Подготовка к проведению лабораторной работы Включение монохроматора.

Градуировка монохроматора 3. Проведение лабораторной работы Провести наблюдение спектров излучения и поглощения.

Провести измерение длины волны излучения лазера.

Провести исследование неизвестного спектра.

Заполнить краткую теоретическую часть и представить от чет к защите.

176 Оптическая микроскопия 4. Градуирование монохроматора УМ Таблица П.1., нм, из таблицы, № п/п Цвет Яркость «на глазок»

Ртуть Неон Примечание. Градуировочный график монохроматора вы полняется на отдельном листе миллиметровой бумаги удобного формата и вклеивается ниже.

5. Наблюдение сплошного спектра излучения и спектров поглощения Таблица П.1., нм,, нм, № Качество,, нм п/п фильтра по градуировке указанная на фильтре 6. Измерение длины волны излучения лазера Приложение 7. Исследование неизвестного спектра Таблица П.1. Газ, нм, № Яр,, нм, по градуировке, нм Цвет п/п кость табличное значение 8. Анализ экспериментальных данных 9. Выводы 178 Оптическая микроскопия 10. Контрольные вопросы 1. Оптическая схема монохроматора. Основные функциональные узлы.

2. Свет. Световая волна. Свойства света.

3. Дисперсия. Монохроматическая волна.

4. Виды спектров излучения. Краткая характеристика каждого спектра.

5. Показатель преломления среды. Абсолютный показатель пре ломления среды.

Приложение CОДЕР ЖАНИЕ ПРЕДИСЛОВИЕ............................................................................................ СПИСОК СОКРАЩЕНИЙ.......................................................................... ВВЕДЕНИЕ..................................................................................................... 1. КОНСПЕКТ ЛЕКЦИЙ........................................................................... 1.1. ВВЕДЕНИЕ В ОПТИЧЕСКУЮ МИКРОСКОПИЮ..................... 1.1.1. История оптической микроскопии................................... 1.1.2. Устройство и современные задачи................................... 1.2. ГЛАЗ И ЕГО СВОЙСТВА.....


.......................................................... 1.2.1. Устройство глаза............................................................... 1.2.2. Чувствительность глаза..................................................... 1.2.3. Разрешающая способность глаза..................................... 1.2.4. Классификация объективов микроскопа......................... 1.2.5. Методы расчета объективов микроскопа........................ 1.3. ОТСЧЕТНЫЕ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ УСТРОЙСТВА.................... 1.3.1. Измерительные марки....................................................... 1.3.2. Шкаловые отсчетные устройства..................................... 1.4. ОСВЕТИТЕЛЬНЫЕ СИСТЕМЫ.................................................... 1.4.1. Осветительные системы микроскопов............................ 1.4.2. Прожекторные системы.................................................... 1.4.3. Оптические системы локации с лазером......................... 1.5. ОПТИЧЕСКИЕ СИСТЕМЫ ДЛЯ ИНФРАКРАСНОЙ ОБЛАСТИ СПЕКТРА..................................................................... 1.5.1. Материалы, применяемые для ИК-области спектра...... 1.5.2. Коррекционные возможности однолинзовой системы.. 1.5.3. Анастигмат из двух линз................................................... 1.6. ОПТИЧЕСКИЕ СИСТЕМЫ............................................................ 1.6.1. Принцип действия микроскопа........................................ 1.6.2. Оценка качества изображений в микроскопии............... 1.6.3. Зеркальные и зеркально-линзовые объективы................ 1.6.4. Окуляры, применяемые в микроскопах........................... 1.6.5. Унификация оптических узлов микроскопов................. 1.7. ВИДЫ ОПТИЧЕСКИХ МИКРОСКОПОВ.................................... 1.7.1. Конфокальный микроскоп................................................ 180 Оптическая микроскопия 1.7.2. Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия....................................................................... 1.8. МЕТОДЫ СВЕТОВОЙ МИКРОСКОПИИ.................................... 1.8.1. Метод светлого поля в проходящем свете...................... 1.8.2. Метод темного поля в проходящем свете....................... 1.8.3. Метод ультрамикроскопии............................................... 1.8.4. Поляризационная микроскопия....................................... 1.8.5. Метод фазового контраста................................................ 1.8.6. Метод интерференционного контраста........................... 1.8.7. Метод исследования в свете люминесценции................ 1.8.8. Метод наблюдения в ультрафиолетовых (УФ) лучах.... 2. МЕТОДИЧЕСКИЕ УКАЗАНИЯ ПО ВЫПОЛНЕНИЮ ЛАБОРАТОРНЫХ РАБОТ.................................................................. ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА №1. ОПТИЧЕСКАЯ МИКРОСКОПИЯ:

ЭЛЛИПСОМЕТРИЯ............................................................................... ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА №2. ОПТИЧЕСКАЯ МИКРОСКОПИЯ:

СПЕКТРОМЕТРИЯ................................................................................ 2.2.1. Методические указания по выполнению работы........... 2.2.2. Работа с программным обеспечением спектрометра, проведение измерений...................................................... ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА №3. АНАЛИЗ РЕЗУЛЬТАТОВ ИЗМЕРЕНИЙ СПЕКТРОВ ОТРАЖЕНИЯ И ПРОПУСКАНИЯ.......................................... 2.3.1. Методические указания по выполнению работы........... ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА №4. ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНОЕ ИССЛЕДОВАНИЕ СВЕТОВОГО ПОЛЯ ИСТОЧНИКА ВИДИМОГО ИЗЛУЧЕНИЯ...................................................................................... 2.4.1. Методические указания по выполнению работы......... ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА №5. ДИСПЕРСИЯ. НАБЛЮДЕНИЕ СПЕКТРОВ........................................................................................ 2.5.1. Методические указания по выполнению работы......... 3. МЕТОДИЧЕСКИЕ МАТЕРИАЛЫ.................................................. 3.1. НОРМАТИВНАЯ ДОКУМЕНТАЦИЯ ПО ДИСЦИПЛИНЕ........................ 3.1.1. Учебно-методический комплекс по дисциплине.......... 3.1.2. Примерная базовая программа дисциплины................. 3.2. СТРУКТУРА И СОСТАВ ФОНДОВ ОЦЕНОЧНЫХ СРЕДСТВ ПО ДИСЦИПЛИНЕ.................................................... 3.2.1. Перечень вопросов для рейтинговых и контрольных мероприятий..................................................................... 3.2.2. Варианты экзаменационных билетов............................ 3.3. СПЕЦИФИКАЦИЯ УЧЕБНЫХ ВИДЕО И АУДИОМАТЕРИАЛОВ, СЛАЙДОВ, ЭСКИЗОВ, ПЛАКАТОВ И ДРУГИХ ДИДАКТИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ.............................................................................. Приложение 3.3.1. Спецификация слайдов-конспектов лекций.................. 3.3.2. Пример оформления дидактических материалов по лекциям........................................................................ ПРИЛОЖЕНИЕ №1. РАБОЧАЯ ТЕТРАДЬ......................................... П.1.1. Отчет по лабораторной работе №1. Эллипсометрия.... П.1.2. Отчет по лабораторной работе №2. Спектроскопия.... П.1.3. Отчет по лабораторной работе №3. Анализ результатов измерений.................................................... П.1.4. Отчет по лабораторной работе №4.

Экспериментальное исследование светового поля источника видимого излучения...................................... П.1.5. Отчет по лабораторной работе №5. Дисперсия.

Наблюдение спектров..................................................... 182 Оптическая микроскопия Учебно-методический комплекс по тематическому направлению деятельности ННС «Наноинженерия»

Андрей Игоревич Власов Кирилл Андреевич Елсуков Илья Алеексеевич Косолапов ОПТИЧЕСКАЯ МИКРОСКОПИЯ Редакторы С. Н. Капранов, К. Ю. Савинченко Технические редакторы М. Р. Фишер, А. Л. Репкин Корректор Т. В. Тимофеева Компьютерная графика М. Р. Фишер, Т. Н. Нечиталюк, К. Ю. Савинченко, А. Ю. Тимофеев Дизайн обложки М. Р. Фишер Оригинал-макет подготовлен в редакционно-издательском отделе КФ МГТУ им. Н. Э. Баумана.

Тел. 8-4842-57-31- Подписано в печать 20.06.2011. Формат 6090/16. Бумага офсетная.

Усл. печ. л. 11,5. Тираж 500 экз. Заказ № Издательство МГТУ им. Н. Э. Баумана.

105 005, Москва, 2-я Бауманская, 5.

Е-mail: press@bmstu.ru http://www.press@bmstu.ru Отпечатано в типографии МГТУ им. Н. Э. Баумана 105005, Москва, 2-я Бауманская, 5.

Тел.: 8-499-263-62-

Pages:     | 1 |   ...   | 2 | 3 ||
 





 
© 2013 www.libed.ru - «Бесплатная библиотека научно-практических конференций»

Материалы этого сайта размещены для ознакомления, все права принадлежат их авторам.
Если Вы не согласны с тем, что Ваш материал размещён на этом сайте, пожалуйста, напишите нам, мы в течении 1-2 рабочих дней удалим его.